数据更新时间
2026-05-12
按“检漏”筛选，展示 10 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 7 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
GJB548B-2005
微电子器件试验方法和程序 方法1014.2条件C
检测项目：细检漏、粗检漏
检测对象：电子元器件
GJB128A-97
半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法1071条件H
检测项目：细检漏、粗检漏
检测对象：电子元器件
GJB360B-2009
电子及电气元件试验方法 方法112 条件C
检测项目：细检漏、粗检漏
检测对象：电子元器件
微电子试验方法和程序 GJB548C-2021 方法1014.3条件A1、A
微电子试验方法和程序 GJB548C-2021 方法1014.3条件A1、A
检测项目：细检漏
检测对象：电子元器件
半导体分立器件试验方法 GJB128B-2021 方法1071条件H1或H
半导体分立器件试验方法 GJB128B-2021 方法1071条件H1或H
检测项目：细检漏
检测对象：电子元器件
微电子试验方法和程序 GJB548C-2021 方法1014.3条件C
微电子试验方法和程序 GJB548C-2021 方法1014.3条件C
检测项目：粗检漏
检测对象：电子元器件
半导体分立器件试验方法 GJB128B-2021 方法1071条件C、D、J
半导体分立器件试验方法 GJB128B-2021 方法1071条件C、D、J
检测项目：粗检漏
检测对象：电子元器件