数据更新时间
2026-05-12
按“GB/T 14028-2018”筛选,展示 5 条相关能力(含该机构旗下分支机构)。
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半导体集成电路模拟开关测试方法
检测项目:导通电阻<I>R</I><Sub>on</Sub>、导通电阻路差Δ<I>R</I><Sub>on</Sub>、截止态漏极漏电流<I>I</I><Sub>D</Sub>(<Sub>off</Sub>)、截止态源级漏电流<I>I</I><Sub>S</Sub>(<Sub>off</Sub>)、导通态漏电流<I>I</I><Sub>DS</Sub>(<Sub>on</Sub>)
检测对象:半导体集成电路模拟开关