数据更新时间
2026-05-12
按“GB/T4586-1994”筛选,展示 7 条相关能力(含该机构旗下分支机构)。
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半导体器件 分立器件 第8部分场效应晶体管 第Ⅳ章方法
检测项目:栅极截止电流或栅极漏泄电流<I>I</I><Sub>GSS</Sub>、漏极截止电流<I>I</I><Sub>DSS</Sub>、栅-源截止电压<I>V</I><Sub>GS</Sub>(<Sub>off</Sub>)、栅-源阈值电压<I>V</I><Sub>GS</Sub>(<Sub>to</Sub>)、通态漏-源电阻源<I>r</I><Sub>ds</Sub>(<Sub>on</Sub>)、漏极电流<I>I</I><Sub>D</Sub>、小信号短路正向跨导<I>g</I><Sub>ms</Sub>
检测对象:场效应晶体管