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数据更新时间
2026-05-12
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能力摘要
来自该机构公开能力范围。
半导体器件 分立器件 第8部分：场效应晶体管 GB/T4586-1994 第Ⅳ章第10条
微波电路 电调衰减器测试方法 GB/T 42744-2023 详细要求 5.1
半导体器件集成电路电压调整器测试方法 GB/T4377-2018 第4.10条
半导体器件第16-1部分：微波集成电路 放大器 GB/T 20870.1-2007 测试方法 5.10
微波电路 频率源测试 方法 GB/T 35002-2018 5.10条
半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路 GBT17574-1998 第IV篇 测试方法：第3节/6
半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 GB/T 17574-1998 Ⅳ 2
微波电路 压控振荡器测试方法 GB/T 35011-2018 详细要求 5.1
华东光电集成器件研究所计量测试中心已整理公开能力范围，可按标准号、产品名称或检测项目在本页继续查询确认。
代表标准包括 GB/T4586-1994、GB/T 42744-2023、GB/T4377-2018、GB/T 20870.1-2007、GB/T 35002-2018、GBT17574-1998 等。完整匹配明细建议按标准号、产品名称或检测项目在本页继续查询确认。
代表检测对象包括 电子元器件、电磁继电器、密封半导体集成电路、有键合丝表面安装和外引线同向引出晶体管、二极管、混合集成电路（含多芯片组件）、移相器、衰减器、功率放大器、低噪声放大器等射频放大器 等，具体是否覆盖您的产品型号、样品状态和报告用途，需结合实验室能力范围确认。
建议以具体产品、检测项目、标准号和报告用途发起查询或提交需求。具备相应资质范围的承接实验室可按委托要求出具检测报告；报告可使用范围需以承接实验室资质、检测标准、委托要求及接收方审核为准。
能力明细已保护
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