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华东光电集成器件研究所计量测试中心

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数据更新时间

2026-05-12

能力范围

按“损耗”筛选,展示 10 条相关能力(含该机构旗下分支机构)。

按标准归类为 7 个标准,每个标准下方直接显示可检测项目,点击可展开全部。

射频电缆组件通用规范 GJB 1215A-2005

射频电缆组件通用规范 GJB 1215A-2005

3 项检测项目

检测项目:插入损耗、插入损耗稳定性、插入损耗一致性

检测对象:射频电缆类

插入损耗插入损耗稳定性插入损耗一致性
GB/T 20870.1-2007

半导体器件第16-1部分:微波集成电路 放大器 测试方法

2 项检测项目

检测项目:输入回波损耗、输出回波损耗

检测对象:功率放大器、低噪声放大器等射频放大器

输入回波损耗输出回波损耗

电子及电气元器件试验方法 GJB360B-2009 方法

电子及电气元器件试验方法 GJB360B-2009 方法

1 项检测项目

检测项目:损耗角正切

检测对象:电容器

损耗角正切

GB/T 42744-2023

微波电路 电调衰减器测试方法 详细要求

1 项检测项目

检测项目:插入损耗

检测对象:衰减器

插入损耗

微波移相器测试方法 SJ 21273-2018 详细要求

微波移相器测试方法 SJ 21273-2018 详细要求

1 项检测项目

检测项目:插入损耗

检测对象:移相器

插入损耗
GB/T 42836-2023

微波半导体集成电路 混频器测试方法 测试方法

1 项检测项目

检测项目:变频损耗

检测对象:混频器

变频损耗

微波电路 微波开关测试方法 SJ 20610-96 详细要求

微波电路 微波开关测试方法 SJ 20610-96 详细要求

1 项检测项目

检测项目:插入损耗

检测对象:微波开关

插入损耗

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华东光电集成器件研究所计量测试中心

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