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2026-05-12
按“电流”筛选，展示 51 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 16 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
半导体器件 分立器件 第8部分：场效应晶体管 第Ⅳ章
检测项目：漏极电流、栅-源截止电流、零栅压漏极电流、正向栅源漏电流、反向栅源漏电流
检测对象：结型场效应管
检测对象：绝缘栅型场效应管
JB/T7626-2013
反向阻断三极晶闸管测试方法 方法
检测项目：门极触发电流、开路断态电流、短路断态电流、维持电流、擎住电流
检测对象：可控硅
GBT17574-1998
半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路 ： 第IV篇 测试方法：第2节 静态特性的测试方法：
检测项目：输入高电平电流I<sub>IH</sub>、输入低电平电流I<sub>IL</sub>、输出短路电流I<sub>OS</sub>、输出高阻态电流I<sub>OZH</sub> 、I<sub>OZL</sub>、静态条件下的电源电流
检测对象：数字集成电路
半导体集成电路 电压比较器测试方法 SJ/T 10805-2018
半导体集成电路 电压比较器测试方法 SJ/T 10805-2018
检测项目：输入偏置电流I<sub>IB</sub>、输入失调电流I<sub>IO</sub>、高电平输出电流I<sub>OH</sub>、低电平输出电流I<sub>OL</sub>
检测对象：电压比较器
GB/T14030-92
半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
检测项目：触发电流、复位电流、阙值电流、静态电源电流
检测对象：时基电路
分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管 第Ⅳ章
检测项目：集电极-发射极截止电流、集电极-基极截止电流、发射极-基极截止电流
检测对象：三极管
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T2215-2015 方法
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T2215-2015 方法
检测项目：输出截止电流、反向电流（二极管）、电流传输比
检测对象：光电耦合器
半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 Ⅳ
检测项目：输出负载电流、输入电平电流、电源电流
检测对象：存储器
半导体器件集成电路运算放大器测试方法 GJB9147—2017
半导体器件集成电路运算放大器测试方法 GJB9147—2017
检测项目：输入偏置电流I<sub>IB</sub>、输入失调电流I<sub>IO</sub>、输出短路电流I<sub>OS</sub>
检测对象：运算放大器
混合集成电路 DC/DC 变换器测试方法 SJ 20646-1997
混合集成电路 DC/DC 变换器测试方法 SJ 20646-1997
检测项目：输出电流、电流调整率、输入电流
检测对象：DC/DC 模块
集成电路模拟数字、数字模拟转换器转换器测试方法 GJB9388-2018
集成电路模拟数字、数字模拟转换器转换器测试方法 GJB9388-2018
检测项目：电源电流、电源电流（Icc）
检测对象：A/D转换器
检测对象：D/A转换器
半导体器件集成电路电压调整器测试方法
检测项目：电流调整率、短路电流
检测对象：精密电压基准电路
检测对象：线性稳压电路
检测对象：开关电源调整电路
电子及电气元器件试验方法 GJB360B-2009 方法
电子及电气元器件试验方法 GJB360B-2009 方法
检测项目：漏电流
检测对象：电容器
半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分 整流二极管
检测项目：反向漏电流
检测对象：二极管
GB/T4377
半导体器件集成电路电压调整器测试方法 －2018
检测项目：输出电流限制
检测对象：线性稳压电路
微波移相器测试方法 SJ 21273-2018 详细要求
微波移相器测试方法 SJ 21273-2018 详细要求
检测项目：控制电流
检测对象：移相器