其他地区
联系电话：暂无
数据更新时间
2026-05-12
按“U”筛选，展示 28 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 3 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
半导体器件集成电路运算放大器测试方法 GJB9147—2017
半导体器件集成电路运算放大器测试方法 GJB9147—2017
检测项目：输入失调电压V<sub>IO</sub>、输入偏置电流I<sub>IB</sub>、输入失调电流I<sub>IO</sub>、开环电压增益A<sub>VO</sub>、共模抑制比K<sub>CMR</sub>、电源电压抑制比K<sub>SVR</sub>、输出峰峰电压V<sub>OPP</sub>、输出短路电流I<sub>OS</sub> 等 10 项，点击展开全部
检测对象：运算放大器
半导体集成电路 电压比较器测试方法 SJ/T 10805-2018
半导体集成电路 电压比较器测试方法 SJ/T 10805-2018
检测项目：输入失调电压V<sub>IO</sub>、输入偏置电流I<sub>IB</sub>、输入失调电流I<sub>IO</sub>、开环电压增益A<sub>VD</sub>、电源电压抑制比K<sub>SVR</sub>、输出低电平电压V<sub>OL</sub>、输出高电平电压V<sub>OH</sub>、高电平输出电流I<sub>OH</sub> 等 10 项，点击展开全部
检测对象：电压比较器
GBT17574-1998
半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路 ： 第IV篇 测试方法：第2节 静态特性的测试方法：
检测项目：输出高电平电压V<sub>OH</sub>、输出低电平电压V<sub>OL</sub>、输入高电平电流I<sub>IH</sub>、输入低电平电流I<sub>IL</sub>、输出短路电流I<sub>OS</sub>、输出高阻态电流I<sub>OZH</sub> 、I<sub>OZL</sub>、输入箝位电压 V<sub>IK</sub>、传输时间t<sub>PHL</sub> 、 t <sub>PLH</sub>
检测对象：数字集成电路