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数据更新时间
2026-05-12
按“GJB 4027A-2006”筛选，展示 1 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
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GJB 4027A-2006
军用电子元器件破坏性物理分析方法
检测项目：X射线检查
检测对象：电子元器件