当前查看:中国电子科技集团公司第四十七研究所电子器件质量检测实验室
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数据更新时间
2026-05-12
按“延迟”筛选,展示 1 条相关能力(含该机构旗下分支机构)。
按标准归类为 1 个标准,每个标准下方直接显示可检测项目,点击可展开全部。
半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路 第Ⅳ篇 第3节
检测项目:延迟和转换时间
检测对象:CMOS和TTL数字集成电路