数据更新时间
2026-05-12
按“Mo”筛选，展示 14 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 2 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
检测项目：输入高电平电流、输入低电平电流、电源电流
检测对象：模拟开关
半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 第Ⅳ篇 第2节
检测项目：输出高电平电压、输出低电平电压、输入高电平电流、输入低电平电流、输出短路电流、输出高阻态时高电平电流、输出高阻态时低电平电流、电源电流 等 11 项，点击展开全部
检测对象：CMOS和TTL数字集成电路