数据更新时间
2026-05-12
按“PIND”筛选，展示 2 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
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微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法
检测项目：PIND
检测对象：微电子及半导体器件
半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 方法
半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 方法
检测项目：PIND
检测对象：微电子及半导体器件