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2026-05-12
按“类型”筛选，展示 34 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 25 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
非本征半导体材料导电类型测试方法
检测项目：导电类型
检测对象：微电子材料
GB/T25075-2010
太阳能电池用砷化镓单晶
检测项目：导电类型、电阻率、霍尔系数、迁移率、载流子浓度、位错密度、位错类型和分布
检测对象：微电子材料
GB/T20228-2021
砷化镓单晶
检测项目：导电类型、电阻率、霍尔系数、迁移率、载流子浓度、位错密度、位错类型和分布
检测对象：微电子材料
GB/T20230-2022
磷化铟单晶
检测项目：导电类型、电阻率、霍尔系数、迁移率、载流子浓度、位错密度、位错类型和分布
检测对象：微电子材料
GJB1927A-2021
砷化镓单晶材料测试方法
检测项目：导电类型、电阻率、霍尔系数、迁移率、载流子浓度、位错密度、位错类型和分布
检测对象：微电子材料
GB/T11297.7-1989
锑化铟单晶电阻率及霍尔系数测试方法
检测项目：导电类型、电阻率、霍尔系数、迁移率、载流子浓度
检测对象：光电子材料
SJ20640-1997
红外探测器用锑化铟单晶片规范
检测项目：导电类型、电阻率、霍尔系数、迁移率、载流子浓度
检测对象：光电子材料
SJ20641-1997
红外探测器用锑化铟单晶规范
检测项目：导电类型、电阻率、霍尔系数、迁移率、载流子浓度
检测对象：光电子材料
GB/T11072-2009
锑化铟多晶、单晶及切割片
检测项目：导电类型、电阻率、霍尔系数、迁移率、载流子浓度
检测对象：光电子材料
GB/T 8760-2020
砷化镓单晶位错密度的测试方法
检测项目：位错密度、位错类型和分布
检测对象：微电子材料
GB/T 5252-2020
锗单晶位错密度的测试方法
检测项目：位错密度、位错类型和分布
检测对象：微电子材料
GB/T 41765-2022
碳化硅单晶位错密度的测试方法
检测项目：位错密度、位错类型和分布
检测对象：微电子材料
GB/T 30656-2023
碳化硅单晶抛光片
检测项目：位错密度、位错类型和分布
检测对象：微电子材料
SJ/T11186-2019
焊锡膏通用规范
检测项目：合金粉末类型、尺寸分布、形状
检测对象：焊接材料
IPC-TM-650 2.2.14.1-1995
焊膏粒径分布--显微镜测量法
检测项目：合金粉末类型、尺寸分布、形状
检测对象：焊接材料
GB/T31475-2015
电子装联高质量内部互连用焊锡膏
检测项目：合金粉末类型、尺寸分布、形状
检测对象：焊接材料
GB/T 4326-2006
非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
检测项目：导电类型、电阻率、霍尔系数、迁移率、载流子浓度
检测对象：微电子材料
GB/T 25074-2017
太阳能级多晶硅
检测项目：导电类型
检测对象：微电子材料
GB/T 25076-2018
太阳电池用硅单晶
检测项目：导电类型
检测对象：微电子材料
GB/T 12962-2015
硅单晶
检测项目：导电类型
检测对象：微电子材料
GB/T 12963-2022
电子级多晶硅
检测项目：导电类型
检测对象：微电子材料
GB/T 12964-2018
硅单晶抛光片
检测项目：导电类型
检测对象：微电子材料
GB/T 12965-2018
硅单晶切割片和研磨片
检测项目：导电类型
检测对象：微电子材料
GB/T5238-2019
锗单晶和锗单晶片
检测项目：导电类型
检测对象：微电子材料
SJ/T 11488-2015
半绝缘砷化镓 电阻率、霍尔系数和迁移率测试方法
检测项目：导电类型、电阻率、霍尔系数、迁移率、载流子浓度
检测对象：微电子材料