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中国电子科技集团公司第四十六研究所中世博实验室

当前查看:中国电子科技集团公司第四十六研究所中世博实验室

北京市 · 北京市

地址:北京市海淀区万寿路27号

联系电话:010-68200821

数据更新时间

2026-05-12

能力范围

按“铟”筛选,展示 26 条相关能力(含该机构旗下分支机构)。

按标准归类为 8 个标准,每个标准下方直接显示可检测项目,点击可展开全部。

SJ20640-1997

红外探测器用锑化铟单晶片规范

7 项检测项目

检测项目:位错密度、导电类型、电阻率、霍尔系数、迁移率、载流子浓度、表面质量、表面粗糙度、抛光片厚度、短轴尺寸、A和B原子面

检测对象:光电子材料

位错密度导电类型、电阻率、霍尔系数、迁移率、载流子浓度表面质量表面粗糙度抛光片厚度短轴尺寸A和B原子面

GB/T 20230-2022

磷化铟单晶

5 项检测项目

检测项目:直径测量、外观、质量、导电类型、电阻率、霍尔系数、迁移率、载流子浓度、位错密度、位错类型和分布、参考面结晶学取向

检测对象:微电子材料

直径测量外观、质量导电类型、电阻率、霍尔系数、迁移率、载流子浓度位错密度、位错类型和分布参考面结晶学取向

SJ20641-1997

红外探测器用锑化铟单晶规范

4 项检测项目

检测项目:位错密度、导电类型、电阻率、霍尔系数、迁移率、载流子浓度、规格尺寸、宏观质量

检测对象:光电子材料

位错密度导电类型、电阻率、霍尔系数、迁移率、载流子浓度规格尺寸宏观质量

GB/T11072-2009

锑化铟多晶、单晶及切割片

4 项检测项目

检测项目:位错密度、导电类型、电阻率、霍尔系数、迁移率、载流子浓度、表面质量、直径及厚度

检测对象:光电子材料

位错密度导电类型、电阻率、霍尔系数、迁移率、载流子浓度表面质量直径及厚度

GB/T11297.6-1989

锑化铟单晶位错蚀坑的腐蚀显示及测量方法

1 项检测项目

检测项目:位错密度

检测对象:光电子材料

位错密度

GB/T11297.7-1989

锑化铟单晶电阻率及霍尔系数测试方法

1 项检测项目

检测项目:导电类型、电阻率、霍尔系数、迁移率、载流子浓度

检测对象:光电子材料

导电类型、电阻率、霍尔系数、迁移率、载流子浓度

YS/T 746.17-2018

无铅锡基焊料化学分析方法 第17部分:银、铜、铅、铋、锑、铁、砷、锌、铝、镉、镍、铟量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法

1 项检测项目

检测项目:银、铜、铅、铋、锑、铁、砷、锌、铝、镉、镍、铟

检测对象:焊接材料

银、铜、铅、铋、锑、铁、砷、锌、铝、镉、镍、铟
GB/T 20975.25-2020

铝及铝合金化学分析方法 第25部分:电感耦合等离子体原子发射光谱法

1 项检测项目

检测项目:铁、铜、镁、锰、镓、钛、钒、铟、锡、铋、钙、铬、锌、镍、镉、锆、铍、铅、硼、硅、锶、锑

检测对象:铝和铝合金

铁、铜、镁、锰、镓、钛、钒、铟、锡、铋、钙、铬、锌、镍、镉、锆、铍、铅、硼、硅、锶、锑

机构信息

机构名称

中国电子科技集团公司第四十六研究所中世博实验室

所在地区

北京市 · 北京市

企业地址

北京市海淀区万寿路27号

联系电话

010-68200821

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