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数据更新时间
2026-05-12
按“GB/T 14141-2009”筛选，展示 1 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 1 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定 直排四探针法
检测项目：电阻率
检测对象：微电子材料