数据更新时间
2026-05-12
按“发射”筛选，展示 9 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 3 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
《半导体分立器件试验方法》 GJB 128B-2021 方法
《半导体分立器件试验方法》 GJB 128B-2021 方法
检测项目：发射极-基极截止电流、集电极-发射极截止电流、基极-发射极电压（饱和或非饱和）、发射极-基极击穿电压、集电极-发射极击穿电压
检测对象：双极型晶体管
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015
检测项目：集电极-发射极击穿电压、集电极-发射极饱和电压
检测对象：半导体分立器件和集成电路光电子器件
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015 方法
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015 方法
检测项目：集电极-发射极击穿电压、集电极-发射极饱和电压
检测对象：半导体分立器件和集成电路光电子器件