数据更新时间
2026-05-12
真实能力概览
来自该机构的真实能力记录。
《半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路》第Ⅳ篇 GB/T17574-1998 方法3
84 条能力记录
半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996 4.1
26 条能力记录
半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T 14030-92 2.1
16 条能力记录
《半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路》第Ⅳ篇 GB/T 17574-1998 方法1
12 条能力记录
半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理 GB-T 4377-2018 4.1
10 条能力记录
半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理 GB/T14028-2018 5.2
10 条能力记录
《半导体器件 分立器件 第6部分：晶闸管》 GB/T 15291-2015 9.1.2
7 条能力记录
《半导体器件 分立器件 第8部分：场效应晶体管》 GB/T4586-1994 第Ⅳ章 15
7 条能力记录
49 条能力记录
38 条能力记录
32 条能力记录
30 条能力记录
26 条能力记录
26 条能力记录
26 条能力记录
24 条能力记录
22 条能力记录
22 条能力记录
33 条能力记录
24 条能力记录
22 条能力记录
22 条能力记录
17 条能力记录
16 条能力记录
15 条能力记录
14 条能力记录
14 条能力记录
10 条能力记录
10 条能力记录
9 条能力记录
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西安西谷微电子有限责任公司元器件检测中心当前整理 716 条真实能力记录，覆盖 47 类检测对象、14 项标准和 318 个检测项目。
代表标准包括 GB/T17574-1998、GB/T 6798-1996、GB/T 14030-92、GB/T 17574-1998、GB-T 4377-2018、GB/T14028-2018 等。完整匹配明细建议按标准号、产品名称或检测项目在本页继续查询确认。
代表检测对象包括 微电子器件、半导体分立器件和集成电路光电子器件、固体继电器、晶体振荡器、半导体分立器件、半导体集成电路模拟开关、半导体集成电路电压比较器、半导体集成电路运算（电压）放大器 等，具体是否覆盖您的产品型号、样品状态和报告用途，需结合实验室能力范围确认。
建议以具体产品、检测项目、标准号和报告用途发起查询或提交需求。具备相应 CMA/CNAS 资质范围的承接实验室可按委托要求出具检测报告；报告可使用范围需以承接实验室资质、检测标准、委托要求及接收方审核为准。
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