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2026-05-12
按“电流”筛选，展示 141 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 29 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
《电流电压传感器总规范》 SJ20790-2000
《电流电压传感器总规范》 SJ20790-2000
检测项目：线性度、零点输出、零点漂移、绝缘电阻、介质耐电压
检测对象：电流电压传感器
《电流电压传感器总规范》 SJ20790-2000 方法
《电流电压传感器总规范》 SJ20790-2000 方法
检测项目：线性度、零点输出、零点漂移、绝缘电阻、介质耐电压
检测对象：电流电压传感器
半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路第Ⅳ篇 方法
检测项目：输入高电平电流I、输入低电平电流、输出高阻态电流、静态条件下的电源电流、输入高电平电流、动态条件下的总电源电流、静态工作电源电流、输入高电平电流I<Sub>IH</Sub> 等 12 项，点击展开全部
检测对象：半导体集成电路CMOS电路
检测对象：半导体集成电路MOS随机存储器
检测对象：半导体集成电路TTL电路
检测对象：半导体集成电路微处理器及外围接口电路
检测对象：半导体集成电路模拟开关
半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
检测项目：输入失调电流I<Sub>IO</Sub>、输入偏置电流I<Sub>IB</Sub>、高电平输出电流I<Sub>OH</Sub>、低电平输出电流I<Sub>OL</Sub>、低电平选通电流I<Sub>STL</Sub>、高电平选通电流I<Sub>ST</Sub>(H)、输入失调电流、输入偏置电流 等 12 项，点击展开全部
检测对象：半导体集成电路电压比较器
GB/T 14030-92
半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
检测项目：复位电流、触发电流、阈值电流、静态电源电流、复位电流I<Sub>R</Sub>、触发电流I<Sub>TR</Sub>、阈值电流I<Sub>T</Sub>、静态电源电流I<Sub>+</Sub>
检测对象：半导体集成电路时基电路
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015
检测项目：正向电流（二极管）、反向电流（二极管）、输出截止电流、电流传输比、高电平电源电流、低电平电源电流
检测对象：半导体分立器件和集成电路光电子器件
混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997
混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997
检测项目：输出电流、电流调整率、输入电流、输出电流Io、电流调整率Si、输入电流Ii
检测对象：混合集成电路DC/DC变换器
半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理
检测项目：截止态漏极漏电流、截止态源极漏电流、截止态漏极漏电流I<Sub>D</Sub>(off)、截止态源极漏电流I<Sub>S</Sub>(off)、导通态漏电流I<Sub>DS</Sub>(on)、导通态漏电流
检测对象：半导体集成电路模拟开关
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015 方法
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015 方法
检测项目：正向电流（二极管）、反向电流（二极管）、输出截止电流、电流传输比、高电平电源电流、低电平电源电流
检测对象：半导体分立器件和集成电路光电子器件
《半导体器件 分立器件 第6部分：晶闸管》
检测项目：反向峰值电流、擎住电流、维持电流、断态电流、门极触发电流
检测对象：闸流晶体管
《半导体分立器件试验方法》 GJB 128B-2021 方法
《半导体分立器件试验方法》 GJB 128B-2021 方法
检测项目：反向漏电流、集电极-基极截止电流、发射极-基极截止电流、集电极-发射极截止电流、正向电流传输比
检测对象：信号（包括开关）和调整二极管
检测对象：双极型晶体管
GB-T 4377-2018
半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理
检测项目：电流调整率S<Sub>I</Sub>、备用消耗电流I<Sub>D</Sub>和备用消耗电流变化⊿I<Sub>D</Sub>、电流调整率、备用消耗电流
检测对象：半导体集成电路电压调整器
半导体器件 分立器件 第8部分：场效应晶体管 第Ⅳ章
检测项目：漏极电流、栅极截止电流和栅极泄漏电流、漏极截止电流
检测对象：场效应晶体管
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017 方法
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017 方法
检测项目：输入失调电流<i>I</i><Sub>IO</Sub>、输入偏置电流<i>I</i><Sub>IB</Sub>、输出短路电流<i>I</i><Sub>os</Sub>
检测对象：半导体集成电路运算（电压）放大器
固体继电器通用规范 GJB 1515B-2017 方法
固体继电器通用规范 GJB 1515B-2017 方法
检测项目：输入接通电流、正向输出漏电流、反向输出漏电流
检测对象：固体继电器
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017
检测项目：输入失调电流、输入偏置电流、输出短路电流
检测对象：半导体集成电路运算（电压）放大器
固体继电器通用规范 GJB 1515B-2017
固体继电器通用规范 GJB 1515B-2017
检测项目：输入电流、输出漏电流
检测对象：固体继电器
《半导体集成电路电压调整器测试方法》
检测项目：短路电流(<i>I</i><sub>OS</sub>)、短路电流
检测对象：半导体集成电路电压调整器
半导体器件 分立器件 第3部分：信号（包括开关）和调整二极管 第Ⅳ章第1节
检测项目：反向漏电流
检测对象：信号（包括开关）和调整二极管
《半导体光电耦合器测试方法》 SJ/T 2215-2015
《半导体光电耦合器测试方法》 SJ/T 2215-2015
检测项目：输入触发电流
检测对象：半导体分立器件和集成电路光电子器件
《固体电解质钽固定电容器通用规范》 GJB 63C-2015
《固体电解质钽固定电容器通用规范》 GJB 63C-2015
检测项目：直流漏电流
检测对象：电容器
《晶体振荡器通用规范》 GJB 1648A-2011 4.6.5.1、
《晶体振荡器通用规范》 GJB 1648A-2011 4.6.5.1、
检测项目：输入电流功率
检测对象：晶体振荡器
《集成电路模拟数字、数字模拟转换器测试方法》 GJB9388-2018 6.23、
《集成电路模拟数字、数字模拟转换器测试方法》 GJB9388-2018 6.23、
检测项目：电源电流
检测对象：半导体集成非线性电路数字模拟转换器和模拟数字转换器
有可靠性指标的电磁继电器总规范 GJB 65B-1999
有可靠性指标的电磁继电器总规范 GJB 65B-1999
检测项目：线圈电流
检测对象：电磁继电器
《集成电路模拟数字、数字模拟转换器测试方法》 GJB9388-2018 方法
《集成电路模拟数字、数字模拟转换器测试方法》 GJB9388-2018 方法
检测项目：电源电流<i>I</i><sub>CC</sub>
检测对象：半导体集成非线性电路数字模拟转换器和模拟数字转换器
《半导体集成电路运算放大器测试方法》 GJB 9147-2017 方法
《半导体集成电路运算放大器测试方法》 GJB 9147-2017 方法
检测项目：最大输出电流<i>I</i><sub>Omax</sub>
检测对象：半导体集成电路运算（电压）放大器
《半导体光电耦合器测试方法》 SJ/T 2215-2015 方法
《半导体光电耦合器测试方法》 SJ/T 2215-2015 方法
检测项目：输入触发电流
检测对象：半导体分立器件和集成电路光电子器件
《晶体振荡器通用规范》 GJB 1648A-2011 方法4.6.5.1、
《晶体振荡器通用规范》 GJB 1648A-2011 方法4.6.5.1、
检测项目：工作电流
检测对象：晶体振荡器
《半导体集成电路运算放大器测试方法》 GJB 9147-2017
《半导体集成电路运算放大器测试方法》 GJB 9147-2017
检测项目：最大输出电流
检测对象：半导体集成电路运算（电压）放大器