数据更新时间
2026-05-12
按“触发”筛选，展示 8 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 4 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
GB/T 14030-92
半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
检测项目：触发电压、触发电流、触发电压V<Sub>TR</Sub>、触发电流I<Sub>TR</Sub>
检测对象：半导体集成电路时基电路
半导体器件 分立器件 第6部分：晶闸管》
检测项目：门极触发电压、门极触发电流
检测对象：闸流晶体管
《半导体光电耦合器测试方法》 SJ/T 2215-2015
《半导体光电耦合器测试方法》 SJ/T 2215-2015
检测项目：输入触发电流
检测对象：半导体分立器件和集成电路光电子器件
《半导体光电耦合器测试方法》 SJ/T 2215-2015 方法
《半导体光电耦合器测试方法》 SJ/T 2215-2015 方法
检测项目：输入触发电流
检测对象：半导体分立器件和集成电路光电子器件