检测对象：半导体集成电路TTL电路
输入钳位电压输出允许时间和禁止时间功能测试输出高电平电压输出低电平电压输入高电平电流输入低电平电流输入钳位电压V<Sub>IK</Sub>输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>输出短路电流I<Sub>OS</Sub>输出高阻态电流I<Sub>OZ</Sub>静态条件下的电源电流传输时间输出短路电流输出高阻态电流
检测对象：半导体集成电路CMOS电路
输出高电平电压输出低电平电压输入高电平电流I输入低电平电流输出高阻态电流静态条件下的电源电流输入阈值电压和滞后电压传输时间输出允许时间和禁止时间功能测试输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>输出高阻态电流I<Sub>OZ</Sub>
检测对象：半导体集成电路时基电路
输出高电平电压输出低电平电压输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>
检测对象：半导体集成电路MOS随机存储器
输出高电平电压输出低电平电压输入高电平电流输入低电平电流输出高阻态电流动态条件下的总电源电流静态工作电源电流延迟时间地址存取时间片选存取时间功能测试输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>输出高阻态电流I<Sub>OZ</Sub>
检测对象：半导体集成电路微处理器及外围接口电路
功能测试输入高电平电流输入低电平电流输出高阻态电流静态工作电源电流输出高电平电压输出低电平电压动态条件下的总电源电流传输时间输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>输出高阻态电流I<Sub>OZ</Sub>输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>
检测对象：半导体集成电路模拟开关
输出高电平电压输出低电平电压输入高电平电流输入低电平电流静态工作电源电流输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>