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2026-05-12
按“U”筛选,展示 81 条相关能力(含该机构旗下分支机构)。
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半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 方法
检测项目:输入失调电压V<Sub>IO</Sub>、输入失调电流I<Sub>IO</Sub>、输入偏置电流I<Sub>IB</Sub>、静态功耗P<Sub>D</Sub>、开环电压增益A<Sub>VD</Sub>、共模抑制比K<Sub>CMR</Sub>、电源电压抑制比K<Sub>SVR</Sub>、输出高电平电压V<Sub>OH</Sub> 等 13 项,点击展开全部
检测对象:半导体集成电路电压比较器
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017 方法
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017 方法
检测项目:输入失调电压V<Sub>IO</Sub>、输入失调电流<i>I</i><Sub>IO</Sub>、输入偏置电流<i>I</i><Sub>IB</Sub>、静态功耗<i>P</i><Sub>D</Sub>、开环电压增益<i>A</i><sub>VO</sub>、共模抑制比<i>K</i><Sub>CMR</Sub>、电源电压抑制比K<Sub>SVR</Sub>、输出峰-峰电压<i>V</i><Sub>opp</Sub> 等 9 项,点击展开全部
检测对象:半导体集成电路运算(电压)放大器
GB/T 14030-92
半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 方法
检测项目:复位电压V<Sub>R</Sub>、复位电流I<Sub>R</Sub>、触发电压V<Sub>TR</Sub>、触发电流I<Sub>TR</Sub>、阈值电压V<Sub>T</Sub>、阈值电流I<Sub>T</Sub>、控制端电压V<Sub>C</Sub>、静态电源电流I<Sub>+</Sub>
检测对象:半导体集成电路时基电路
半导体器件集成电路 第2部分:数字集成电路第Ⅳ篇 方法
检测项目:输入钳位电压V<Sub>IK</Sub>、输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>、输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>、输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>、输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>、输出短路电流I<Sub>OS</Sub>、输出高阻态电流I<Sub>OZ</Sub>
检测对象:半导体集成电路TTL电路
检测对象:半导体集成电路CMOS电路
检测对象:半导体集成电路MOS随机存储器
检测对象:半导体集成电路微处理器及外围接口电路
检测对象:半导体集成电路模拟开关
检测对象:半导体集成电路时基电路
GB-T 4377-2018
半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理 方法
检测项目:电压调整率S<Sub>V</Sub>、电流调整率S<Sub>I</Sub>、备用消耗电流I<Sub>D</Sub>和备用消耗电流变化⊿I<Sub>D</Sub>、基准电压V<Sub>REF</Sub>
检测对象:半导体集成电路电压调整器
《半导体集成电路电压调整器测试方法》 方法
检测项目:最小输入输出电压差(<i>V</i><sub>DROP</sub>)、输出电压(<i>V</i><sub>O</sub>)、短路电流(<i>I</i><sub>OS</sub>)、输出阻抗(<i>Z</i><sub>O</sub>)
检测对象:半导体集成电路电压调整器
半导体集成非线性电路数字模拟转换器和模拟数字转换器测试方法的基本原理 GJB 9388-2018 方法
半导体集成非线性电路数字模拟转换器和模拟数字转换器测试方法的基本原理 GJB 9388-2018 方法
检测项目:失调误差E<Sub>O</Sub>、增益误差E<Sub>G</Sub>、功耗P<Sub>W</Sub>
检测对象:半导体集成非线性电路数字模拟转换器和模拟数字转换器
《集成电路模拟数字、数字模拟转换器测试方法》 GJB9388-2018 方法
《集成电路模拟数字、数字模拟转换器测试方法》 GJB9388-2018 方法
检测项目:双极零点误差<i>E</i><sub>BZ</sub>、满度误差<i>E</i><sub>FS</sub>、电源电流<i>I</i><sub>CC</sub>
检测对象:半导体集成非线性电路数字模拟转换器和模拟数字转换器
半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理 方法
检测项目:截止态漏极漏电流I<Sub>D</Sub>(off)、截止态源极漏电流I<Sub>S</Sub>(off)、导通态漏电流I<Sub>DS</Sub>(on)
检测对象:半导体集成电路模拟开关
《半导体集成电路运算放大器测试方法》 GJB 9147-2017 方法
《半导体集成电路运算放大器测试方法》 GJB 9147-2017 方法
检测项目:转换速率<i>S</i><sub>R</sub>、最大输出电流<i>I</i><sub>Omax</sub>
检测对象:半导体集成电路运算(电压)放大器