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西安西谷微电子有限责任公司元器件检测中心

当前查看:西安西谷微电子有限责任公司元器件检测中心

陕西省 · 西安市

地址:陕西省西安市高新区成业大道4301号1号楼

联系电话:029-68590620

数据更新时间

2026-05-12

能力范围

按“U”筛选,展示 81 条相关能力(含该机构旗下分支机构)。

按标准归类为 10 个标准,每个标准下方直接显示可检测项目,点击可展开全部。

GB/T 6798-1996

半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 方法

13 项检测项目

检测项目:输入失调电压V<Sub>IO</Sub>、输入失调电流I<Sub>IO</Sub>、输入偏置电流I<Sub>IB</Sub>、静态功耗P<Sub>D</Sub>、开环电压增益A<Sub>VD</Sub>、共模抑制比K<Sub>CMR</Sub>、电源电压抑制比K<Sub>SVR</Sub>、输出高电平电压V<Sub>OH</Sub> 等 13 项,点击展开全部

检测对象:半导体集成电路电压比较器

输入失调电压V<Sub>IO</Sub>输入失调电流I<Sub>IO</Sub>输入偏置电流I<Sub>IB</Sub>静态功耗P<Sub>D</Sub>开环电压增益A<Sub>VD</Sub>共模抑制比K<Sub>CMR</Sub>电源电压抑制比K<Sub>SVR</Sub>输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>高电平输出电流I<Sub>OH</Sub>低电平输出电流I<Sub>OL</Sub>低电平选通电流I<Sub>STL</Sub>高电平选通电流I<Sub>ST</Sub>(H)

半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017 方法

半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017 方法

9 项检测项目

检测项目:输入失调电压V<Sub>IO</Sub>、输入失调电流<i>I</i><Sub>IO</Sub>、输入偏置电流<i>I</i><Sub>IB</Sub>、静态功耗<i>P</i><Sub>D</Sub>、开环电压增益<i>A</i><sub>VO</sub>、共模抑制比<i>K</i><Sub>CMR</Sub>、电源电压抑制比K<Sub>SVR</Sub>、输出峰-峰电压<i>V</i><Sub>opp</Sub> 等 9 项,点击展开全部

检测对象:半导体集成电路运算(电压)放大器

输入失调电压V<Sub>IO</Sub>输入失调电流<i>I</i><Sub>IO</Sub>输入偏置电流<i>I</i><Sub>IB</Sub>静态功耗<i>P</i><Sub>D</Sub>开环电压增益<i>A</i><sub>VO</sub>共模抑制比<i>K</i><Sub>CMR</Sub>电源电压抑制比K<Sub>SVR</Sub>输出峰-峰电压<i>V</i><Sub>opp</Sub>输出短路电流<i>I</i><Sub>os</Sub>

GB/T 14030-92

半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 方法

8 项检测项目

检测项目:复位电压V<Sub>R</Sub>、复位电流I<Sub>R</Sub>、触发电压V<Sub>TR</Sub>、触发电流I<Sub>TR</Sub>、阈值电压V<Sub>T</Sub>、阈值电流I<Sub>T</Sub>、控制端电压V<Sub>C</Sub>、静态电源电流I<Sub>+</Sub>

检测对象:半导体集成电路时基电路

复位电压V<Sub>R</Sub>复位电流I<Sub>R</Sub>触发电压V<Sub>TR</Sub>触发电流I<Sub>TR</Sub>阈值电压V<Sub>T</Sub>阈值电流I<Sub>T</Sub>控制端电压V<Sub>C</Sub>静态电源电流I<Sub>+</Sub>
GB/T17574-1998

半导体器件集成电路 第2部分:数字集成电路第Ⅳ篇 方法

7 项检测项目

检测项目:输入钳位电压V<Sub>IK</Sub>、输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>、输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>、输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>、输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>、输出短路电流I<Sub>OS</Sub>、输出高阻态电流I<Sub>OZ</Sub>

检测对象:半导体集成电路TTL电路

输入钳位电压V<Sub>IK</Sub>输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>输出短路电流I<Sub>OS</Sub>输出高阻态电流I<Sub>OZ</Sub>

检测对象:半导体集成电路CMOS电路

输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>输出高阻态电流I<Sub>OZ</Sub>

检测对象:半导体集成电路MOS随机存储器

输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>输出高阻态电流I<Sub>OZ</Sub>

检测对象:半导体集成电路微处理器及外围接口电路

输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>输出高阻态电流I<Sub>OZ</Sub>输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>

检测对象:半导体集成电路模拟开关

输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>

检测对象:半导体集成电路时基电路

输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>

GB-T 4377-2018

半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理 方法

4 项检测项目

检测项目:电压调整率S<Sub>V</Sub>、电流调整率S<Sub>I</Sub>、备用消耗电流I<Sub>D</Sub>和备用消耗电流变化⊿I<Sub>D</Sub>、基准电压V<Sub>REF</Sub>

检测对象:半导体集成电路电压调整器

电压调整率S<Sub>V</Sub>电流调整率S<Sub>I</Sub>备用消耗电流I<Sub>D</Sub>和备用消耗电流变化⊿I<Sub>D</Sub>基准电压V<Sub>REF</Sub>
GB/T 4377-2018

《半导体集成电路电压调整器测试方法》 方法

4 项检测项目

检测项目:最小输入输出电压差(<i>V</i><sub>DROP</sub>)、输出电压(<i>V</i><sub>O</sub>)、短路电流(<i>I</i><sub>OS</sub>)、输出阻抗(<i>Z</i><sub>O</sub>)

检测对象:半导体集成电路电压调整器

最小输入输出电压差(<i>V</i><sub>DROP</sub>)输出电压(<i>V</i><sub>O</sub>)短路电流(<i>I</i><sub>OS</sub>)输出阻抗(<i>Z</i><sub>O</sub>)

半导体集成非线性电路数字模拟转换器和模拟数字转换器测试方法的基本原理 GJB 9388-2018 方法

半导体集成非线性电路数字模拟转换器和模拟数字转换器测试方法的基本原理 GJB 9388-2018 方法

3 项检测项目

检测项目:失调误差E<Sub>O</Sub>、增益误差E<Sub>G</Sub>、功耗P<Sub>W</Sub>

检测对象:半导体集成非线性电路数字模拟转换器和模拟数字转换器

失调误差E<Sub>O</Sub>增益误差E<Sub>G</Sub>功耗P<Sub>W</Sub>

《集成电路模拟数字、数字模拟转换器测试方法》 GJB9388-2018 方法

《集成电路模拟数字、数字模拟转换器测试方法》 GJB9388-2018 方法

3 项检测项目

检测项目:双极零点误差<i>E</i><sub>BZ</sub>、满度误差<i>E</i><sub>FS</sub>、电源电流<i>I</i><sub>CC</sub>

检测对象:半导体集成非线性电路数字模拟转换器和模拟数字转换器

双极零点误差<i>E</i><sub>BZ</sub>满度误差<i>E</i><sub>FS</sub>电源电流<i>I</i><sub>CC</sub>
GB/T14028-2018

半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理 方法

3 项检测项目

检测项目:截止态漏极漏电流I<Sub>D</Sub>(off)、截止态源极漏电流I<Sub>S</Sub>(off)、导通态漏电流I<Sub>DS</Sub>(on)

检测对象:半导体集成电路模拟开关

截止态漏极漏电流I<Sub>D</Sub>(off)截止态源极漏电流I<Sub>S</Sub>(off)导通态漏电流I<Sub>DS</Sub>(on)

《半导体集成电路运算放大器测试方法》 GJB 9147-2017 方法

《半导体集成电路运算放大器测试方法》 GJB 9147-2017 方法

2 项检测项目

检测项目:转换速率<i>S</i><sub>R</sub>、最大输出电流<i>I</i><sub>Omax</sub>

检测对象:半导体集成电路运算(电压)放大器

转换速率<i>S</i><sub>R</sub>最大输出电流<i>I</i><sub>Omax</sub>

机构信息

机构名称

西安西谷微电子有限责任公司元器件检测中心

所在地区

陕西省 · 西安市

企业地址

陕西省西安市高新区成业大道4301号1号楼

联系电话

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