数据更新时间
2026-05-12
按“GB/T 14028-2018”筛选,展示 6 条相关能力(含该机构旗下分支机构)。
按标准归类为 1 个标准,每个标准下方直接显示可检测项目,点击可展开全部。
半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理
检测项目:静态工作电源电流、导通电阻R<Sub>on</Sub>、导通电阻路差△R<Sub>on</Sub>、截止态漏极漏电流I<Sub>D</Sub>(off)、截止态源极漏电流I<Sub>S</Sub>(off)、导通态漏电流I<Sub>DS</Sub>(on)
检测对象:半导体集成电路模拟开关