数据更新时间
2026-05-12
按“GB/T14030-1992”筛选,展示 8 条相关能力(含该机构旗下分支机构)。
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半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
检测项目:复位电压V<Sub>R</Sub>、复位电流I<Sub>R</Sub>、触发电压V<Sub>TR</Sub>、触发电流I<Sub>TR</Sub>、阈值电压V<Sub>T</Sub>、阈值电流I<Sub>T</Sub>、控制端电压V<Sub>C</Sub>、静态电源电流I<Sub>+</Sub>
检测对象:半导体集成电路时基电路