数据更新时间
2026-05-12
按“GB/T4586-1994”筛选,展示 7 条相关能力(含该机构旗下分支机构)。
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半导体器件 第8部分 场效应晶体管
检测项目:栅源短路时栅极漏电流I<Sub>GSS</Sub>、漏极电流I<Sub>d</Sub><Sub>on</Sub>、漏-源短路漏极电流I<Sub>DSS</Sub>、漏-源击穿电压B<Sub>VDSS</Sub>、栅极阈值电压V<Sub>GS</Sub><Sub>th</Sub>、正向跨导g<Sub>gs</Sub><Sub>Vgs</Sub>、静态漏-源通态电阻R<Sub>DS</Sub><Sub>on</Sub>
检测对象:场效应晶体管