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2026-05-12
按“H”筛选，展示 125 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 21 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
IEC 60115-4:2022
电子设备用固定电阻器 第4部分：分规范：电路板（THT）通孔组装或底盘组装用功率电阻器
检测项目：外观检查、尺寸(量规检验)、阻值、耐电压（仅对绝缘型电阻器）、可焊性、过载、阻值随温度变化、电阻器主体强度 等 30 项，点击展开全部
检测对象：功率型固定电阻器
IEC 60115-2:2023
电子设备用固定电阻器 第2部分：分规范：电路板通孔组装(THT)的引线式低功率薄膜电阻器
检测项目：外观检查、尺寸(量规检验)、阻值、绝缘电阻、耐电压、可焊性、过载、引出端强度 等 24 项，点击展开全部
检测对象：低功率非线绕固定电阻器
AEC-Q100-Rev-H：2014
基于集成电路失效机理的应力测试认证要求 表2 测试组B
检测项目：NVM擦写次数、数据保持和工作寿命、应力测试前后的功能参数、闩锁效应、电分配、表征特性、短路特性、机械冲击、扫频振动 等 21 项，点击展开全部
检测对象：集成电路
HD 60269-2:2013
低压熔断器 第2部分：专职人员使用的熔断器的补充要求（主要用于工业的熔断器）标准化熔断器系统示例A至K
检测项目：标志、总则、绝缘性能和隔离适用性验证、温升与耗散功率验证、动作验证、分断能力验证、截断电流特性验证、I²t特性和过电流选择性验证 等 11 项，点击展开全部
检测对象：专职人员使用的熔断器
MIL-STD-202H:2015
电子及电气元件试验方法 Method
检测项目：高温存放、特定耐潮耐热、高温环境运行寿命、引出端强度、耐溶剂试验、机械冲击、振动、耐焊接热
检测对象：无源器件
AEC-Q104-Rev：2017
车用多芯片模块可靠性测试 表1 测试组 H
检测项目：板级可靠性测试、低温贮存寿命、启动和温度步骤、MCM 冲击测试、破坏性物理分析、X-射线、声学显微镜测试
检测对象：多芯片模块
环境试验 第2部分：试验方法 试验Fh：宽带随机振动和导则
检测项目：振动试验、宽带随机振动
检测对象：电工电子产品
检测对象：电工电子产品环境试验
IEC 60068-2-30:2005
电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Db:交变湿热（12h+12h循环）
检测项目：交变湿热、温度/湿度组合循环试验
检测对象：电工电子产品环境试验
检测对象：电工电子产品、电子设备
电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Db:交变湿热（12h+12h循环）
检测项目：交变湿热、温度/湿度组合循环试验
检测对象：电工电子产品环境试验
检测对象：电工电子产品、电子设备
HB 5277-2021
发动机叶片及材料振动疲劳试验方法
检测项目：振动试验
检测对象：电工电子产品
HB 20319-2016
航空燃气涡轮发动机叶片振动特性试验方法 5.2.3 a）
检测项目：振动试验
检测对象：电工电子产品
JESD22-A104F:2020
温度循环试验 MethodJA-
检测项目：温度循环试验
检测对象：无源器件
MIL-STD-883L-2:2019
微电子器件试验方法和程序 Method
检测项目：外观检查
检测对象：无源器件
JESD22-B100B:2016
物理尺寸 Method JB-
检测项目：尺寸检验
检测对象：无源器件
IEC 60068-2-64:2019
环境试验 第2部分：试验方法 试验Fh：宽带随机振动和导则
检测项目：宽带随机振动
检测对象：电工电子产品环境试验
半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路第Ⅳ篇 第2节
检测项目：输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>、输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>、功能测试（全0全1，55AA、互补读写、Match算法等）
检测对象：半导体器件集成电路存储器
检测对象：半导体集成电路微处理器及外围接口电路
SJ/T2215-2015
半导体光电耦合器测试方法
检测项目：输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>、高电平电源电流I<Sub>CCH</Sub>
检测对象：半导体光电耦合器
SJ/T 10805-2018
半导体集成电路 电压比较器测试方法
检测项目：输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>、高电平输出电流I<Sub>OH</Sub>
检测对象：半导体集成电路电压比较器
AEC-Q102-Rev-A：2020
汽车应用中分立光电半导体基于失效机制的应力测试认证 表2 测试组C
检测项目：腐蚀特性（H2S)
检测对象：光电半导体
IEC 60068-2-43:2003
环境试验.第2-43部分：试验.试验Kd：触点和连接件的硫化氢试验 全部条款
检测项目：腐蚀特性（H2S)
检测对象：电工电子产品
半导体器件 第8部分 场效应晶体管 第Ⅳ章 方法
检测项目：栅极阈值电压V<Sub>GS</Sub><Sub>th</Sub>
检测对象：场效应晶体管