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2026-05-12
按“存储器”筛选，展示 16 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
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《半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理》 SJ/T 10739-1996
《半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理》 SJ/T 10739-1996
检测项目：输出高电平电压 VOH、输出低电平电压 VOL、输入负载电流 ILI、输出高阻态时高电平电流 IOZH、输出高阻态时低电平电流 IOZL、工作状态时 VDD 电源电流 IDD、工作状态时 VCC电源电流 ICC、维持状态时 VDD 电源电流 IDDS 等 9 项，点击展开全部
检测对象：半导体集成电路MOS随机存储器
《半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理》 SJ/T 10739-1996 4.1,
《半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理》 SJ/T 10739-1996 4.1,
检测项目：功能测试
检测对象：半导体集成电路MOS随机存储器
《半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路》 第IV篇 第2节
检测项目：输出高电平电压 VOH、输出低电平电压 VOL、输入低电平电流 IIL、输入高电平电流 IIH、输入高阻态电流 IOZ、静态条件下的电源电流
检测对象：半导体集成电路MOS随机存储器