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2026-05-12
按“电流”筛选，展示 67 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
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《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》 SJ/T 10741-2000
《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》 SJ/T 10741-2000
检测项目：输入高电平电流 IIH、输入低电平电流 IIL、输出高电平电流 IOH、输出低电平电流 IOL、输出高阻态时高电平电流 IOZH、输出高阻态时低电平电流 IOZL、电源电流 IDD
检测对象：半导体集成电路CMOS电路
《半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理》 SJ/T 10735-1996
《半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理》 SJ/T 10735-1996
检测项目：输入高电平电流 IIH、输入低电平电流 IIL、输出高阻态时高电平电流 IOZH、输出高阻态时低电平电流 IOZL、电源电流 ICC、输出高电平时电源电流 ICCH、输出低电平时电源电流 ICCL
检测对象：半导体集成电路TTL电路
《半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理》 SJ/T 10739-1996
《半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理》 SJ/T 10739-1996
检测项目：输入负载电流 ILI、输出高阻态时高电平电流 IOZH、输出高阻态时低电平电流 IOZL、工作状态时 VDD 电源电流 IDD、工作状态时 VCC电源电流 ICC、维持状态时 VDD 电源电流 IDDS、维持状态时 VCC 电源电流 ICCS
检测对象：半导体集成电路MOS随机存储器
《半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路》 第IV章 第2节
检测项目：输入高电平电流 IIH、输入低电平电流 IIL、输出高阻态电流 IOZ、静态条件下的电源电流、动态条件下的总电源电流、输入高阻态电流 IOZ
检测对象：数字集成电路
检测对象：半导体集成电路CMOS电路
检测对象：半导体集成电路MOS随机存储器
检测对象：半导体集成电路微处理器及外围接口电路
检测对象：半导体集成电路模拟开关
《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》
检测项目：输入失调电流 IIO、输入偏置电流 IIB、高电平输出电流 IOH、低电平输出电流 IOL、高电平选通电流 IST(H)、低电平选通电流 IST(L)
检测对象：半导体集成电路电压比较器
《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》 SJ/T 10805-2018
《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》 SJ/T 10805-2018
检测项目：输入失调电流 IIO、输入偏置电流 IIB、高电平输出电流 IOH、低电平输出电流 IOL、选通电流 IST
检测对象：半导体集成电路电压比较器
《半导体分立器件 第7部分：双极型晶体管》
检测项目：共发射极正向电流传输比静态值之比h<sub>FE</sub>、集电极-基极截止电流（I<Sub>CBO</Sub>）、发射极-基极截止电流（I<Sub>EBO</Sub>）、集电极-发射极截止电流（I<Sub>CEO</Sub>）
检测对象：三极管
《半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路》 第IV篇第3节
检测项目：备用电流（静态电流）、输入失调电流 IIO、输入偏置电流 IIB
检测对象：模拟集成电路
《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》
检测项目：电流调整率SI、备用消耗电流ID和备用消耗电流变化△ID
检测对象：半导体集成电路电压调整器
《固体继电器总规范》 GJB1515A-2001
《固体继电器总规范》 GJB1515A-2001
检测项目：输入电流、输出漏电流
检测对象：固体继电器
《混合集成电路DC/DC变换器测试方法》 SJ20646-97
《混合集成电路DC/DC变换器测试方法》 SJ20646-97
检测项目：输出电流、输入电流
检测对象：DC/DC变换器
《集成电路模拟数字、数字模拟转换器测试方法》 GJB 9388-2018 6.23,
《集成电路模拟数字、数字模拟转换器测试方法》 GJB 9388-2018 6.23,
检测项目：电源电流 ICC
检测对象：半导体集成非线性电路数字模拟转换器和模拟数字转换器（仅限14位及14位以下）
《半导体集成电路运算放大器测试方法》 GJB 9147-2017
《半导体集成电路运算放大器测试方法》 GJB 9147-2017
检测项目：输入失调电流 IIO
检测对象：半导体集成电路运算放大器
《半导体集成电路运算放大器测试方法》 GJB 9147-2017 5.3,
《半导体集成电路运算放大器测试方法》 GJB 9147-2017 5.3,
检测项目：输入偏置电流 IIB
检测对象：半导体集成电路运算放大器
《电子设备用固定电容器 第1部分：总规范》
检测项目：漏电流
检测对象：电容器