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2026-05-12
按“CMOS电路”筛选，展示 10 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 2 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》 SJ/T 10741-2000
《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》 SJ/T 10741-2000
检测项目：输出高电平电压 VOH、输出低电平电压 VOL、输入高电平电流 IIH、输入低电平电流 IIL、输出高电平电流 IOH、输出低电平电流 IOL、输出高阻态时高电平电流 IOZH、输出高阻态时低电平电流 IOZL 等 9 项，点击展开全部
检测对象：半导体集成电路CMOS电路
《半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路》 第IV章 第3节
检测项目：动态条件下的总电源电流
检测对象：半导体集成电路CMOS电路