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2026-05-12
按“H”筛选，展示 66 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 28 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
HJB237-2001
《舰船电磁兼容性试验方法》
检测项目：搭接和接地电阻、试验区电磁环境
检测对象：船舶设备
《民用飞机机载设备环境条件和试验方法 第2部分：温度和高度试验》 HB6167.2-2014 5.5.3、
《民用飞机机载设备环境条件和试验方法 第2部分：温度和高度试验》 HB6167.2-2014 5.5.3、
检测项目：高温试验
检测对象：专用及通用电子产品、电气产品、机械产品
《民用飞机机载设备环境条件和试验方法 第2部分：温度和高度试验》 HB6167.2-2014 5.5.1、
《民用飞机机载设备环境条件和试验方法 第2部分：温度和高度试验》 HB6167.2-2014 5.5.1、
检测项目：低温试验
检测对象：专用及通用电子产品、电气产品、机械产品
《电工电子产品 环境试验 第2部分：试验方法 试验Db：交变湿热（12h+12h循环）》
检测项目：交变湿热试验
检测对象：专用及通用电子产品、电气产品、机械产品
《民用飞机机载设备环境条件和试验方法 第4部分：湿热试验》 HB6167.4-
《民用飞机机载设备环境条件和试验方法 第4部分：湿热试验》 HB6167.4-
检测项目：交变湿热试验
检测对象：专用及通用电子产品、电气产品、机械产品
《民用飞机机载设备环境条件和试验方法 第3部分：温度变化试验》 HB6167.3-
《民用飞机机载设备环境条件和试验方法 第3部分：温度变化试验》 HB6167.3-
检测项目：温度变化试验
检测对象：专用及通用电子产品、电气产品、机械产品
《环境试验 第2部分：试验方法 试验Fh：宽带随机振动和导则》
检测项目：振动试验
检测对象：专用及通用电子产品、电气产品、机械产品
《民用飞机机载设备环境条件和试验方法 第6部分：振动试验》 HB6167.6-
《民用飞机机载设备环境条件和试验方法 第6部分：振动试验》 HB6167.6-
检测项目：振动试验
检测对象：专用及通用电子产品、电气产品、机械产品
《民用飞机机载设备环境条件和试验方法 飞行冲击和坠撞安全试验》 HB6167.5-
《民用飞机机载设备环境条件和试验方法 飞行冲击和坠撞安全试验》 HB6167.5-
检测项目：冲击试验
检测对象：专用及通用电子产品、电气产品、机械产品
《民用飞机机载设备环境条件和试验方法 第2部分：温度和高度试验》 HB6167.2-2014
《民用飞机机载设备环境条件和试验方法 第2部分：温度和高度试验》 HB6167.2-2014
检测项目：低气压试验
检测对象：专用及通用电子产品、电气产品、机械产品
《民用飞机机载设备环境条件和试验方法 盐雾试验》 HB6167.12-
《民用飞机机载设备环境条件和试验方法 盐雾试验》 HB6167.12-
检测项目：盐雾试验
检测对象：专用及通用电子产品、电气产品、机械产品
HJB237-2001 14
《舰船电磁兼容性试验方法》
检测项目：舱室电场
检测对象：船舶设备
《半导体分立器件试验方法》 GJB128A－1997 方法1071条件H1（细检漏）及C （粗检漏）
《半导体分立器件试验方法》 GJB128A－1997 方法1071条件H1（细检漏）及C （粗检漏）
检测项目：密封
检测对象：电子元器件
《半导体分立器件试验方法》 GJB128B－2021 方法1071条件H1（细检漏）及C （粗检漏）
《半导体分立器件试验方法》 GJB128B－2021 方法1071条件H1（细检漏）及C （粗检漏）
检测项目：密封
检测对象：电子元器件
《军用设备和分系统电磁发射和敏感度要求与测量》 GJB151B-2013
《军用设备和分系统电磁发射和敏感度要求与测量》 GJB151B-2013
检测项目：25Hz ～10kHz电源线传导发射CE101、10kHz ～10MHz电源线传导发射CE102、4kHz ～400MHz电缆束注入传达敏感度CS114、10kHz ～18GHz电场辐射发射RE102、10kHz ～40GHz天线谐波和乱真输出辐射发射RE103、10kHz～40GHz电场辐射敏感度RS103、25Hz～150kHz 电源线传导敏感度CS101、10kHz～100MHz电缆和电源线阻尼正弦瞬变传导敏感度CS116 等 11 项，点击展开全部
检测对象：专用设备和分系统
《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》 SJ/T 10741-2000
《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》 SJ/T 10741-2000
检测项目：输出高电平电压 VOH、输入高电平电流 IIH、输出高电平电流 IOH、输出高阻态时高电平电流 IOZH
检测对象：半导体集成电路CMOS电路
《半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理》 SJ/T 10735-1996
《半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理》 SJ/T 10735-1996
检测项目：输出高电平电压 VOH、输入高电平电流 IIH、输出高阻态时高电平电流 IOZH、输出高电平时电源电流 ICCH
检测对象：半导体集成电路TTL电路
《军用设备和分系统电磁发射和敏感度要求》 GJB151A-1997
《军用设备和分系统电磁发射和敏感度要求》 GJB151A-1997
检测项目：25Hz～50kHz 电源线传导敏感度CS101、10kHz～100MHz电缆和电源线阻尼正弦瞬变传导敏感度CS116、25Hz ～100kHz磁场辐射发射RE101、25Hz～100 kHz磁场辐射敏感度RS101
检测对象：专用设备和分系统
《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》
检测项目：输出高电平电压 VOH、高电平输出电流 IOH、高电平选通电流 IST(H)
检测对象：半导体集成电路电压比较器
《军用设备和分系统电磁发射和敏感度测量》 GJB152A-1997 方法CS
《军用设备和分系统电磁发射和敏感度测量》 GJB152A-1997 方法CS
检测项目：4kHz ～400MHz电缆束注入传达敏感度CS114、25Hz～50kHz 电源线传导敏感度CS101、10kHz～100MHz电缆和电源线阻尼正弦瞬变传导敏感度CS116
检测对象：专用设备和分系统
《半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路》 第IV章 第2节
检测项目：输出高电平电压 VOH、输入高电平电流 IIH
检测对象：数字集成电路
检测对象：半导体集成电路MOS随机存储器
检测对象：半导体集成电路微处理器及外围接口电路
检测对象：半导体集成电路模拟开关
《半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理》 SJ/T 10739-1996
《半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理》 SJ/T 10739-1996
检测项目：输出高电平电压 VOH、输出高阻态时高电平电流 IOZH
检测对象：半导体集成电路MOS随机存储器
《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》 SJ/T 10805-2018
《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》 SJ/T 10805-2018
检测项目：输出高电平电压 VOH、高电平输出电流 IOH
检测对象：半导体集成电路电压比较器
《军用设备和分系统电磁发射和敏感度测量》 GJB152A-1997 方法CE
《军用设备和分系统电磁发射和敏感度测量》 GJB152A-1997 方法CE
检测项目：25Hz ～10kHz电源线传导发射CE101、10kHz ～10MHz电源线传导发射CE102
检测对象：专用设备和分系统
《军用设备和分系统电磁发射和敏感度测量》 GJB152A-1997 方法RE
《军用设备和分系统电磁发射和敏感度测量》 GJB152A-1997 方法RE
检测项目：10kHz ～18GHz电场辐射发射RE102、10kHz ～40GHz天线谐波和乱真输出辐射发射RE103
检测对象：专用设备和分系统
《军用设备和分系统电磁发射和敏感度测量》 GJB152A-1997 方法RS
《军用设备和分系统电磁发射和敏感度测量》 GJB152A-1997 方法RS
检测项目：10kHz～40GHz电场辐射敏感度RS103、25Hz～100 kHz磁场辐射敏感度RS101
检测对象：专用设备和分系统
《军用设备和分系统电磁发射和敏感度测量 GJB152A-1997 方法RE
《军用设备和分系统电磁发射和敏感度测量 GJB152A-1997 方法RE
检测项目：25Hz ～100kHz磁场辐射发射RE101
检测对象：专用设备和分系统
《半导体分立器件 第7部分：双极型晶体管》
检测项目：共发射极正向电流传输比静态值之比h<sub>FE</sub>
检测对象：三极管