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数据更新时间
2026-05-12
按“TTL电路”筛选，展示 9 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 1 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
《半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理》 SJ/T 10735-1996
《半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理》 SJ/T 10735-1996
检测项目：输出高电平电压 VOH、输出低电平电压 VOL、输入高电平电流 IIH、输入低电平电流 IIL、输出高阻态时高电平电流 IOZH、输出高阻态时低电平电流 IOZL、电源电流 ICC、输出高电平时电源电流 ICCH 等 9 项，点击展开全部
检测对象：半导体集成电路TTL电路