数据更新时间
2026-05-12
真实能力概览
来自该机构的真实能力记录。
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027B-2021 工作项目0101 金属膜固定电阻器 0101-2.2
215 条能力记录
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 工作项目0101 金属膜固定电阻器 0101-2.2
107 条能力记录
半导体分立器件试验方法 GJB 128B-2021 方法1016
39 条能力记录
半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路 GB/T 17574-1998 7.2.1
38 条能力记录
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法1003
37 条能力记录
电子及电子元件试验方法 GJB 360B-2009 方法106 耐湿试验 4
34 条能力记录
半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000 5.1
25 条能力记录
机载设备环境条件和试验方法 RTCA/DO-160G-2010 第10节 防水性
23 条能力记录
479 条能力记录
230 条能力记录
87 条能力记录
81 条能力记录
49 条能力记录
46 条能力记录
39 条能力记录
32 条能力记录
32 条能力记录
30 条能力记录
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西安西测测试技术股份有限公司当前整理 1,699 条真实能力记录，覆盖 68 类检测对象、392 项标准和 454 个检测项目。
代表标准包括 GJB 4027B-2021、GJB 4027A-2006、GJB 128B-2021、GB/T 17574-1998、GJB 548C-2021、GJB 360B-2009 等。完整匹配明细建议按标准号、产品名称或检测项目在本页继续查询确认。
代表检测对象包括 （一）专用及民用电子、通讯、机械类设备、（五十四）电子元器件、（五十五）半导体器件、（二）专用设备和分系统、（五十七）微波元器件、（二十三）电磁继电器、（四）机载设备、（三）专用系统 等，具体是否覆盖您的产品型号、样品状态和报告用途，需结合实验室能力范围确认。
建议以具体产品、检测项目、标准号和报告用途发起查询或提交需求。具备相应 CMA/CNAS 资质范围的承接实验室可按委托要求出具检测报告；报告可使用范围需以承接实验室资质、检测标准、委托要求及接收方审核为准。
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