数据更新时间
2026-05-12
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半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路 第Ⅳ篇第2节
检测项目：输入失调电压 <I>V</I><Sub>IO</Sub>、输入失调电流 <I>I</I><Sub>IO</Sub>
检测对象：（九）模拟集成电路
SJ/T 10738-1996
半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理
检测项目：输入失调电压 <I>V</I><Sub>IO</Sub>、输入失调电流 <I>I</I><Sub>IO</Sub>
检测对象：（十一）半导体集成电路运算（电压）放大器
半导体集成电路运算放大器测试方法
检测项目：输入失调电压 <I>V</I><Sub>IO</Sub>、输入失调电流 <I>I</I><Sub>IO</Sub>
检测对象：（十一）半导体集成电路运算（电压）放大器
SJ/T 10805-2018
半导体集成电路电压比较器测试方法
检测项目：输入失调电压 <I>V</I><Sub>IO</Sub>、输入失调电流 <I>I</I><Sub>IO</Sub>
检测对象：（十二）半导体集成电路电压比较器
半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
检测项目：输入失调电压 <I>V</I><Sub>IO</Sub>、输入失调电流 <I>I</I><Sub>IO</Sub>
检测对象：（十二）半导体集成电路电压比较器
SJ/T 10818-1996
半导体集成非线性电路数字/模拟转换器和模拟/数字转换器测试方法的基本原理
检测项目：失调误差 <I>E</I><Sub>O</Sub>
检测对象：（六）半导体集成非线性电路数字模拟转换器和模拟数字转换器（仅限14位及14位以下）
集成电路模拟数字、数字模拟转换器测试方法 6.1,
检测项目：失调误差 <I>E</I><Sub>O</Sub>
检测对象：（六）半导体集成非线性电路数字模拟转换器和模拟数字转换器（仅限14位及14位以下）