数据更新时间
2026-05-12
按“延迟”筛选，展示 16 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 4 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
SJ/T 10741-2000
半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理
检测项目：输出由低电平到高电平传输延迟时间<I>t</I><Sub>PLH</Sub>、输出由高电平到低电平传输延迟时间<I>t</I><Sub>PHL</Sub>、输出由高阻态到高电平传输延迟时间<I>t</I><Sub>PZH</Sub>、输出由高阻态到低电平传输延迟时间<I>t</I><Sub>PZL</Sub>、输出由高电平到高阻态传输延迟时间<I>t</I><Sub>PHZ</Sub>、输出由低电平到高阻态传输延迟时间<I>t</I><Sub>PLZ</Sub>、输出由低电平到高电平转换延迟时间<I>t</I><Sub>TLH</Sub>、输出由高电平到低电平转换延迟时间<I>t</I><Sub>THL</Sub>
检测对象：（三）半导体集成电路CMOS电路
SJ/T 10735-1996
半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项目：输出由低电平到高电平传输延迟时间<I>t</I><Sub>PLH</Sub>、输出由高电平到低电平传输延迟时间<I>t</I><Sub>PHL</Sub>、输出由高阻态到高电平传输延迟时间<I>t</I><Sub>PZH</Sub>、输出由高阻态到低电平传输延迟时间<I>t</I><Sub>PZL</Sub>、输出由高电平到高阻态传输延迟时间<I>t</I><Sub>PHZ</Sub>、输出由低电平到高阻态传输延迟时间<I>t</I><Sub>PLZ</Sub>
检测对象：（四）半导体集成电路TTL电路
半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路 第Ⅳ篇 第3节
检测项目：延迟时间和转换时间
检测对象：（七）半导体集成电路微处理器及外围接口电路
微波电路放大器测试方法 方法
检测项目：群延迟时间
检测对象：（五十七）微波元器件