数据更新时间
2026-05-12
按“阈值”筛选，展示 7 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 5 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路 第Ⅳ篇 第2节
检测项目：（输入）阈值电压、（输入）阈值电压和滞后电压
检测对象：（二）数字集成电路
检测对象：（七）半导体集成电路微处理器及外围接口电路
SJ/T 10741-2000
半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理
检测项目：输入正向阈值电压<I>V</I><Sub>IT+</Sub>、输入负向阈值电压<I>V</I><Sub>IT-</Sub>
检测对象：（三）半导体集成电路CMOS电路
SJ/T 10805-2018
半导体集成电路电压比较器测试方法
检测项目：控制端阈值电压<I>V</I><Sub>T</Sub>
检测对象：（十二）半导体集成电路电压比较器
半导体器件分立器件第9部分：绝缘栅双极晶体管（IGBT)
检测项目：栅极-发射极阈值电压
检测对象：（十三）绝缘栅双极型晶体管
半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管 第Ⅳ章
检测项目：栅-源阈值电压
检测对象：（十六）场效应管