数据更新时间
2026-05-12
按“GB/T 4377-2018”筛选,展示 12 条相关能力(含该机构旗下分支机构)。
按标准归类为 1 个标准,每个标准下方直接显示可检测项目,点击可展开全部。
半导体集成电路电压调整器测试方法
检测项目:电压调整率 <I>S</I><Sub>V</Sub>、电流调整率 <I>S</I><Sub>I</Sub>、纹波抑制比 <I>S</I><Sub>rip</Sub>、耗散电流 <I>I</I><Sub>D</Sub>和耗散电流变化 △<I>I</I><Sub>D</Sub>、短路电流 <I>I</I><Sub>OS</Sub>、输出电压(<I>V</I><Sub>O</Sub>)和输出电压偏差(△<I>V</I><Sub>O</Sub>)、基准电压 <I>V</I><Sub>REF</Sub>、输出阻抗<I>Z</I><Sub>O</Sub> 等 12 项,点击展开全部
检测对象:(十)半导体集成电路电压调整器