数据更新时间
2026-05-12
按“GB/T17574-1998”筛选，展示 38 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 1 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路
检测项目：输入箝位电压 <I>V</I><Sub>IK</Sub>、输出高电平电压 <I>V</I><Sub>OH</Sub>、输出低电平电压 <I>V</I><Sub>OL</Sub>、输入高电平电流 <I>I</I><Sub>IH</Sub>、输入低电平电流 <I>I</I><Sub>IL</Sub>、输出高阻态电流 <I>I</I><Sub>OZ</Sub>、静态条件下的电源电流、输出短路电流 <I>I</I><Sub>OS</Sub> 等 18 项，点击展开全部
检测对象：（二）数字集成电路
检测对象：（五）半导体集成电路MOS随机存储器
检测对象：（七）半导体集成电路微处理器及外围接口电路
检测对象：（八）半导体集成电路模拟开关