数据更新时间
2026-05-12
按“HAST”筛选，展示 3 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 3 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
IEC 60749-24-2004
半导体器件 机械和气候试验方法 第24部分：加速耐湿 无偏置强加速应力试验（HAST） 第24部分：加速耐湿 无偏置强加速应力试验（HAST）
检测项目：高压蒸煮
检测对象：（五十五）半导体器件
半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分：强加速稳态湿热试验（HAST） 第4部分：强加速稳态湿热试验（HAST）
检测项目：强加速稳态湿热试验（HAST）
检测对象：（五十五）半导体器件
JESD 22-A110E-2015
Highly Accelerated Temperature Humidity Stress Test（HAST）
检测项目：强加速稳态湿热试验（HAST）
检测对象：（五十五）半导体器件