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2026-05-12
按“O”筛选，展示 179 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 24 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
SJ/T 10741-2000
半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理
检测项目：输入钳位电压 <I>V</I><Sub>IK</Sub>、输入高电平电压 <I>V</I><Sub>IH</Sub>、输入低电平电压 <I>V</I><Sub>IL</Sub>、输出高电平电压 <I>V</I><Sub>OH</Sub>、输出低电平电压 <I>V</I><Sub>OL</Sub>、输入高电平电流 <I>I</I><Sub>IH</Sub>、输入低电平电流 <I>I</I><Sub>IL</Sub>、输出高电平电流 <I>I</I><Sub>OH</Sub> 等 25 项，点击展开全部
检测对象：（三）半导体集成电路CMOS电路
RTCA/DO-160G-2010
机载设备环境条件和试验方法 第24节 结冰
检测项目：结冰试验、防水试验、流体敏感性试验、爆炸性大气试验、温度变化、防火,可燃性、雷电感应瞬态敏感度试验、磁影响 等 17 项，点击展开全部
检测对象：（一）专用及民用电子、通讯、机械类设备
检测对象：（四）机载设备
RTCA/DO-160F-2007
机载设备环境条件和试验方法 第8节 振动
检测项目：结冰试验、防水试验、流体敏感性试验、温度变化、防火,可燃性、雷电感应瞬态敏感度试验、磁影响、电源输入 等 16 项，点击展开全部
检测对象：（一）专用及民用电子、通讯、机械类设备
检测对象：（四）机载设备
RTCA/DO-160E-2004
机载设备环境条件和试验方法 第8节 振动
检测项目：结冰试验、防水试验、温度变化、流体敏感性试验、雷电感应瞬态敏感度试验、磁影响、电源输入、电压尖峰试验 等 15 项，点击展开全部
检测对象：（一）专用及民用电子、通讯、机械类设备
检测对象：（四）机载设备
SJ/T 10739-1996
半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理
检测项目：输出高电平电压 <I>V</I><Sub>OH</Sub>、输出低电平电压 <I>V</I><Sub>OL</Sub>、输入负载电流 <I>I</I><Sub>LI</Sub>、输出高阻态时高电平电流 <I>I</I><Sub>OZH</Sub>、输出高阻态时低电平电流 <I>I</I><Sub>OZL</Sub>、工作状态时 <I>V</I><Sub>DD</Sub>电源电流 <I>I</I><Sub>DD</Sub>、工作状态时 <I>V</I><Sub>CC</Sub>电源电流 <I>I</I><Sub>CC</Sub>、维持状态时 <I>V</I><Sub>DD</Sub>电源电流 <I>I</I><Sub>DDS</Sub> 等 10 项，点击展开全部
检测对象：（五）半导体集成电路MOS随机存储器
RTCA/DO-160G:2010
机载设备环境条件和试验方法 第20节 射频敏感度
检测项目：电源线音频传导敏感度、感应信号敏感度、射频敏感度、射频能量发射、静电放电
检测对象：（四）机载设备
RTCA/DO-160F:2007
机载设备环境条件和试验方法 第20节 射频敏感度
检测项目：电源线音频传导敏感度、感应信号敏感度、射频敏感度、射频能量发射、静电放电
检测对象：（四）机载设备
RTCA/DO-160E:2004
机载设备环境条件和试验方法 第20节 射频敏感度
检测项目：电源线音频传导敏感度、感应信号敏感度、射频敏感度、射频能量发射、静电放电
检测对象：（四）机载设备
ISO20653：2023
道路车辆-防护等级（IP代码）-电气设备对外来物水和接触的防护 5,6,8.3,
检测项目：外壳防护等级（IP代码）
检测对象：（一）专用及民用电子、通讯、机械类设备
RTCA DO-160E-2004
机载设备的环境条件和测试程序 第9节 爆炸性大气
检测项目：爆炸性大气试验
检测对象：（一）专用及民用电子、通讯、机械类设备
RTCA DO-160F-2007
机载设备的环境条件和测试程序 第9节 爆炸性大气
检测项目：爆炸性大气试验
检测对象：（一）专用及民用电子、通讯、机械类设备
ISO 12048:1994
包装 运输包装件基本试验 第4部分：采用压力试验机进行的抗压和堆码试验方法 7.2,
检测项目：包装物挤压
检测对象：（一）专用及民用电子、通讯、机械类设备
半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路 第Ⅳ篇 第2节
检测项目：输出高电平电压 <I>V</I><Sub>OH</Sub>、输出低电平电压 <I>V</I><Sub>OL</Sub>、输出高阻态电流 <I>I</I><Sub>OZ</Sub>、输出短路电流 <I>I</I><Sub>OS</Sub>、输入低电平电流 <I>I</I><Sub>IL</Sub>、输入高电平电流 <I>I</I><Sub>IH</Sub>、静态条件下的电源电流、输出短路电流<I>I</I><Sub>OS</Sub>
检测对象：（二）数字集成电路
检测对象：（五）半导体集成电路MOS随机存储器
检测对象：（七）半导体集成电路微处理器及外围接口电路
检测对象：（八）半导体集成电路模拟开关
SJ/T 10735-1996
半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项目：输出高电平电压 <I>V</I><Sub>OH</Sub>、输出低电平电压 <I>V</I><Sub>OL</Sub>、输出短路电流 <I>I</I><Sub>OS</Sub>、输出高阻态时高电平电流 <I>I</I><Sub>OZH</Sub>、输出高阻态时低电平电流 <I>I</I><Sub>OZL</Sub>、输出截止电流<I>I</I><Sub>OOFF</Sub>
检测对象：（四）半导体集成电路TTL电路
半导体集成电路运算放大器测试方法
检测项目：输入失调电压 <I>V</I><Sub>IO</Sub>、输入失调电流 <I>I</I><Sub>IO</Sub>、输出峰-峰电压 <I>V</I><Sub>OPP</Sub>、输出短路电流 <I>I</I><Sub>OS</Sub>、最大输出电流<I>I</I><Sub>Omax</Sub>、输出短路电流<I>I</I><Sub>OS</Sub>
检测对象：（十一）半导体集成电路运算（电压）放大器
SJ/T 10805-2018
半导体集成电路电压比较器测试方法
检测项目：输入失调电压 <I>V</I><Sub>IO</Sub>、输入失调电流 <I>I</I><Sub>IO</Sub>、输出高电平电压 <I>V</I><Sub>OH</Sub>、输出低电平电压 <I>V</I><Sub>OL</Sub>、高电平输出电流 <I>I</I><Sub>OH</Sub>、低电平输出电流 <I>I</I><Sub>OL</Sub>
检测对象：（十二）半导体集成电路电压比较器
半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
检测项目：输入失调电压 <I>V</I><Sub>IO</Sub>、输入失调电流 <I>I</I><Sub>IO</Sub>、输出高电平电压 <I>V</I><Sub>OH</Sub>、输出低电平电压 <I>V</I><Sub>OL</Sub>、高电平输出电流 <I>I</I><Sub>OH</Sub>、低电平输出电流 <I>I</I><Sub>OL</Sub>
检测对象：（十二）半导体集成电路电压比较器
半导体集成电路电压调整器测试方法
检测项目：短路电流 <I>I</I><Sub>OS</Sub>、输出电压（<I>V</I><Sub>O</Sub>）和输出电压偏差（△<I>V</I><Sub>O</Sub>）、输出阻抗<I>Z</I><Sub>O</Sub>、最小输入输出电压差<I>V</I><Sub>DROP</Sub>
检测对象：（十）半导体集成电路电压调整器
SJ/T 10738-1996
半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理
检测项目：输入失调电压 <I>V</I><Sub>IO</Sub>、输入失调电流 <I>I</I><Sub>IO</Sub>、输出峰-峰电压 <I>V</I><Sub>OPP</Sub>、输出短路电流 <I>I</I><Sub>OS</Sub>
检测对象：（十一）半导体集成电路运算（电压）放大器
集成电路模拟数字、数字模拟转换器测试方法
检测项目：失调误差 <I>E</I><Sub>O</Sub>、满度输出电流<I>I</I><Sub>O</Sub>、模拟输出漏电流<I>I</I><Sub>OL</Sub>
检测对象：（六）半导体集成非线性电路数字模拟转换器和模拟数字转换器（仅限14位及14位以下）
半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路 第Ⅳ篇第2节
检测项目：输入失调电压 <I>V</I><Sub>IO</Sub>、输入失调电流 <I>I</I><Sub>IO</Sub>、短路输出电流 <I>I</I><Sub>OS</Sub>
检测对象：（九）模拟集成电路
半导体集成电路模拟开关测试方法
检测项目：导通电阻 <I>R</I><Sub>ON</Sub>、导通电阻路差 △<I>R</I><Sub>ON</Sub>
检测对象：（八）半导体集成电路模拟开关
SJ 20646-1997
混合集成电路DC/DC变换器测试方法
检测项目：输出电压 <I>V</I><Sub>O</Sub>、输出电流 <I>I</I><Sub>O</Sub>
检测对象：（十八）DC/DC 变换器
SJ/T 10818-1996
半导体集成非线性电路数字/模拟转换器和模拟/数字转换器测试方法的基本原理
检测项目：失调误差 <I>E</I><Sub>O</Sub>
检测对象：（六）半导体集成非线性电路数字模拟转换器和模拟数字转换器（仅限14位及14位以下）