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数据更新时间
2026-05-12
按“芯片”筛选，展示 41 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 4 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
AEC-Q104-REV-2017
基于失效机理的汽车多芯片模块应力测试鉴定 表1 第A1项
检测项目：预处理、高温高湿（有偏压T）、高压蒸煮或高温高湿（无偏压）、温度循环、功率温度循环、高温储存寿命、高温工作寿命、早期寿命失效率 等 38 项，点击展开全部
检测对象：车用多芯片模块
JESD51-51-2012
发光二极管LED芯片
检测项目：结温
检测对象：半导体发光二极管
GB/T 30655-2014
氮化物 LED外延片内量子效率测试方法
检测项目：外量子效率
检测对象：LED芯片
AEC-Q102-REV-A-2020
基于失效机制的汽车用光电子半导体应力测试鉴定 表2 第C5项
检测项目：芯片剪切
检测对象：光电半导体