数据更新时间
2026-05-12
按“GB/T17574-1998”筛选，展示 5 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 1 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
半导体集成电路 第2部分：数字集成电路 第Ⅳ篇 第2节
检测项目：输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>、输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>、静态条件下的电源电流、输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>、输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>
检测对象：半导体集成电路微处理器及外围接口电路