数据更新时间
2026-05-12
按“F”筛选，展示 56 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 4 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
MIL-STD-750F:2012
半导体测试方法测试标准
检测项目：漏源间反向击穿电压、漏极反向电流、栅极触发电流、栅极触发电压、保持电流、锁存电流、关闭状态正向漏电流、关闭状态反向漏电流 等 41 项，点击展开全部
检测对象：功率金属氧化物场效应管
检测对象：晶闸管
检测对象：晶体管
检测对象：绝缘栅双极型晶体管
检测对象：二极管
JESD24-11:1996(R2002)
功率MOSFET栅极串联等效电阻测试方法
检测项目：栅极串联等效电阻
检测对象：绝缘栅双极型晶体管
检测对象：功率金属氧化物场效应管
JESD22-A104F:2020
温度循环
检测项目：高低温循环试验
检测对象：电子元器件
IEC 60068-2-6:2007
环境试验 第2-6部分：试验- 试验Fc：振动（正弦）
检测项目：振动试验
检测对象：通用电子产品