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数据更新时间
2026-05-12
按“GB/T29332-2012”筛选，展示 8 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 1 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
半导体器件 分立器件 第9部分š绝缘栅双极晶体管(IGBT)
检测项目：集电极-发射极饱和电压(Vce(sat))、栅极-发射极阈值电压(Vge(th))、集电极截止电流(Ices/Icer/Icex)、栅极漏电流(Iges)、输入电容(Cies)、输出电容(Coes)、反向传输电容(Cres)、耐久性和可靠性试验
检测对象：电子元器件