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数据更新时间
2026-05-12
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能力摘要
来自该机构公开能力范围。
半导体分立器件试验方法 GJB128B-2021 4011
半导体分立器件和集成电路第7 部分：双极型晶体管 第Ⅳ 通用测试方法和基准测试方法 第1节 通用测试方法 GB/T4587-94 10
微电子器件试验方法和程序 方法 GJB548C-2021 2009.2
半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管 第Ⅳ 通用测试方法 GB/T 4586-94 11
军用通信设备通用规范 GJB367A-2001 4.7.31
锁紧型钢丝螺套通用规范 GJB 5107-2002 4.5.1
《军用设备和分系统电磁发射和敏感度要求与测量》 GJB151B-2013 5.13
电子及电气元器件试验方法 GJB360B-2009 107
中国航天标准化研究所航天产品可靠性与质量检测试验室已整理公开能力范围，可按标准号、产品名称或检测项目在本页继续查询确认。
代表标准包括 GJB128B-2021、GB/T4587-94、GJB548C-2021、GB/T 4586-94、GJB367A-2001、GJB 5107-2002 等。完整匹配明细建议按标准号、产品名称或检测项目在本页继续查询确认。
代表检测对象包括 金属材料及制品(机械性能)、专用及通用电子产品、电气产品、机械产品、机电产品、紧固件、晶体管、金属-氧化物-半导体场效应晶体管、半导体分立器件、微电子器件、二极管 等，具体是否覆盖您的产品型号、样品状态和报告用途，需结合实验室能力范围确认。
建议以具体产品、检测项目、标准号和报告用途发起查询或提交需求。具备相应资质范围的承接实验室可按委托要求出具检测报告；报告可使用范围需以承接实验室资质、检测标准、委托要求及接收方审核为准。
能力明细已保护
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检测对象、检测项目、标准依据等明细已隐藏
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