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数据更新时间
2026-05-12
按“GB/T 35306-2023”筛选，展示 2 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 1 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
硅单晶中碳、氧含量的测定 低温傅 立叶变换红外光谱法
检测项目：间隙氧含量（低温）、代位碳含量（低温）
检测对象：半导体材料