数据更新时间
2026-05-12
真实能力概览
来自该机构的真实能力记录。
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ 20961-2006 5.1.1
94 条能力记录
半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 GB/T 17574-1998 第Ⅳ篇第2节第1条
25 条能力记录
半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 GB/T 17940-2000 第Ⅳ篇第2节第10条
21 条能力记录
混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997 5.1
11 条能力记录
半导体集成电路电压调整器测试方法 GB/T 4377-2018 4.1
9 条能力记录
微电路测试方法 MIL-STD-883L:2019 4004.2
8 条能力记录
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法1010.1 温度循环
5 条能力记录
国防部试验方法标准 微型电路 MIL-STD-883L :2019 方法 1015.12
5 条能力记录
83 条能力记录
47 条能力记录
15 条能力记录
11 条能力记录
9 条能力记录
9 条能力记录
9 条能力记录
4 条能力记录
5 条能力记录
3 条能力记录
3 条能力记录
3 条能力记录
3 条能力记录
3 条能力记录
3 条能力记录
3 条能力记录
3 条能力记录
2 条能力记录
2 条能力记录
2 条能力记录
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上海华岭集成电路技术股份有限公司当前整理 187 条真实能力记录，覆盖 8 类检测对象、16 项标准和 108 个检测项目。
代表标准包括 SJ 20961-2006、GB/T 17574-1998、GB/T 17940-2000、SJ 20646-1997、GB/T 4377-2018、MIL-STD-883L:2019 等。完整匹配明细建议按标准号、产品名称或检测项目在本页继续查询确认。
代表检测对象包括 CMOS集成电路、集成电路A/D和D/A转换器、系统级电子器件、DC/DC电源变换器、半导体集成电路电压调整器、射频接收器、高密度现场可编程器件、电子元器件 等，具体是否覆盖您的产品型号、样品状态和报告用途，需结合实验室能力范围确认。
建议以具体产品、检测项目、标准号和报告用途发起查询或提交需求。具备相应 CMA/CNAS 资质范围的承接实验室可按委托要求出具检测报告；报告可使用范围需以承接实验室资质、检测标准、委托要求及接收方审核为准。
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