数据更新时间
2026-05-12
按“微电路”筛选，展示 10 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 3 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
MIL-STD-883L:2019
微电路测试方法
检测项目：开环性能（增益，带宽，失真，动态范围）、输出性能、功率增益和噪声系数、自动增益控制范围、信号增益、噪声系数
检测对象：CMOS集成电路
检测对象：射频接收器
method 1015.1 Burn-in test
微电子器件试验方法和程序 微电路测试方法 GJB 548C-2021 方法1015.1 老炼
检测项目：老炼试验
检测对象：电子元器件
MIL-STD-883L :2019 方法1015.10
微电子器件试验方法和程序 微电路测试方法 MIL-STD-883L :2019 方法
检测项目：老炼试验
检测对象：电子元器件