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2026-05-12
按“电路”筛选,展示 175 条相关能力(含该机构旗下分支机构)。
按标准归类为 8 个标准,每个标准下方直接显示可检测项目,点击可展开全部。
SJ 20961-2006
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理
检测项目:D/A失调误差、D/A信噪比、D/A失调误差温度系数、D/A增益误差、D/A增益误差温度系数、D/A线性误差、D/A线性误差温度系数、D/A微分线性误差 等 47 项,点击展开全部
检测对象:集成电路A/D和D/A转换器
检测对象:CMOS集成电路
半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路 第Ⅳ篇第2节
检测项目:电源电流、差分输入线性放大器的输入失调电压和单端输入放大器的偏置电压、输入失调电流、输入偏置电流、输入失调电压温度系数、输入失调电流温度系数、开环电压放大倍数、截止频率 等 21 项,点击展开全部
检测对象:CMOS集成电路
半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第Ⅳ篇第2节
检测项目:输入高电平电流和输入低电平电流、静态条件下的电源电流、动态条件下的总电源电流、表征电路的时间、数字集成电路的功能检验方法、输出高电平电压和输出低电平电压、输出短路电流、输入箝位电压 等 13 项,点击展开全部
检测对象:射频接收器
检测对象:高密度现场可编程器件
检测对象:CMOS集成电路
SJ 20646-1997
混合集成电路DC/DC变换器测试方法
检测项目:输出电压、输出电流、输出纹波电压、电压调整率、电流调整率、输入电流、输出电压温度系数、效率 等 11 项,点击展开全部
检测对象:DC/DC电源变换器
MIL-STD-883L:2019
微电路测试方法
检测项目:开环性能(增益,带宽,失真,动态范围)、输出性能、功率增益和噪声系数、自动增益控制范围、信号增益、噪声系数、老炼试验、密封-粗检漏、密封-细检漏 等 10 项,点击展开全部
检测对象:CMOS集成电路
检测对象:射频接收器
检测对象:系统级电子器件
半导体集成电路电压调整器测试方法
检测项目:电压调整率、电流调整率、输出电压温度系数、输出电压长期稳定性、耗散电流和耗散电流变化、短路电流、基准电压、热调整率 等 9 项,点击展开全部
检测对象:半导体集成电路电压调整器
method 1015.1 Burn-in test
微电子器件试验方法和程序 微电路测试方法 GJB 548C-2021 方法1015.1 老炼
检测项目:老炼试验
检测对象:电子元器件
MIL-STD-883L :2019 方法1015.10
微电子器件试验方法和程序 微电路测试方法 MIL-STD-883L :2019 方法
检测项目:老炼试验
检测对象:电子元器件