数据更新时间
2026-05-12
按“Mo”筛选,展示 83 条相关能力(含该机构旗下分支机构)。
按标准归类为 4 个标准,每个标准下方直接显示可检测项目,点击可展开全部。
SJ 20961-2006
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理
检测项目:D/A失调误差、D/A失调误差温度系数、D/A增益误差、D/A增益误差温度系数、D/A线性误差、D/A线性误差温度系数、D/A微分线性误差、D/A微分线性误差温度系数 等 47 项,点击展开全部
检测对象:CMOS集成电路
半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路 第Ⅳ篇第2节
检测项目:电源电流、差分输入线性放大器的输入失调电压和单端输入放大器的偏置电压、输入失调电流、输入偏置电流、输入失调电压温度系数、输入失调电流温度系数、开环电压放大倍数、截止频率 等 21 项,点击展开全部
检测对象:CMOS集成电路
半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第Ⅳ篇第2节
检测项目:输出高电平电压、输出低电平电压、输入高电平电流、输入低电平电流、输出短路电流、静态条件下的电源电流、输入箝位电压、输出高阻态电流 等 11 项,点击展开全部
检测对象:CMOS集成电路
MIL-STD-883L:2019
微电路测试方法
检测项目:开环性能(增益,带宽,失真,动态范围)、输出性能、功率增益和噪声系数、自动增益控制范围
检测对象:CMOS集成电路