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2026-05-12
按“电流”筛选，展示 46 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 17 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
SJ/T 10741-2000
半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理
检测项目：输入高电平电流、输入低电平电流、输出高电平电流、输出低电平电流、输出高阻态时高电平电流、输出高阻态时低电平电流、电源电流
检测对象：CMOS电路
半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 第Ⅳ篇第2节
检测项目：输入高电平电流、输入低电平电流、静态条件下的电源电流、输出短路电流、输出高阻态电流
检测对象：存储器
检测对象：TTL电路
半导体器件和集成电路第7部分：双极型晶体管
检测项目：集电极-基极截止电流、集电极-发射极截止电流、发射极-基极截止电流(直流法）、共发射极正向电流传输比
检测对象：双极型晶体管
半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
检测项目：输入失调电流、输入偏置电流、高电平输出电流、低电平输出电流
检测对象：半导体集成电压比较器
半导体集成电路模拟开关测试方法
检测项目：截止态漏极漏电流、导通态漏电流、截止态源极漏电流
检测对象：半导体集成电路模拟开关
混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997
混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997
检测项目：输出电流、电流调整率、输入电流
检测对象：电源模块
半导体器件 集成电路第3部分：模拟集成电路 第Ⅳ篇第2节
检测项目：输入失调电流、输入偏置电流、电源电流
检测对象：半导体集成运算放大器
半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管 第IV章
检测项目：栅极截止电流或栅极漏泄电流、漏极截止电流
检测对象：场效应晶体管
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ 20961-2006 5.1.15,
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ 20961-2006 5.1.15,
检测项目：数字输入高电平电流、数字输入低电平电流
检测对象：集成电路A/D 、D/A转换器
固体继电器通用规范 GJB1515B-2017
固体继电器通用规范 GJB1515B-2017
检测项目：输入电流、输出漏电流
检测对象：固体继电器
半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理
检测项目：电流调整率、短路电流
检测对象：半导体集成电压调整器
半导体器件分立器件和集成电路 第2部分：整流二极管
检测项目：反向电流
检测对象：二极管
半导体器件 分立器件 第3部分：信号（包括开关）和调整二极管 第Ⅳ章第1节
检测项目：反向电流
检测对象：信号（包括开关）和调整二极管
半导体分立器件和集成电路第5-3部分：光电子器件测试方法
检测项目：电流传输比
检测对象：光电耦合器
半导体分立器件试验方法 GJB 128B-2021
半导体分立器件试验方法 GJB 128B-2021
检测项目：反向电流I<Sub>R</Sub>
检测对象：光电耦合器
混合和固体延时继电器通用规范 GJB 1513A-2009
混合和固体延时继电器通用规范 GJB 1513A-2009
检测项目：输入电流
检测对象：延时继电器
电子设备用固定电容器 第1部分：总规范
检测项目：漏电流
检测对象：电容器