数据更新时间
2026-05-12
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能力摘要
来自该机构公开能力范围。
电子电气产品中特定物质的测定 第5部分：在聚合物和电子器件的镉、铅和铬及在金属中的镉和铅的AAS, AFS, ICP-OES 和 ICP-MS法 IEC 62321-5:2013
微束分析 原子序数不小于11的元素能谱法定量分析 GB/T 17359-2023
测定电工技术产品中的某些物质-第7-1部分-六价铬-无色和有色腐蚀保护涂层金属的六价铬的测定 比色法 IEC 62321-7-1:2015
电子产品中某些物质的测定- 第7-2部分 六价铬－通过比色法测定聚合物和电子产品中的六价铬 IEC 62321-7-2:2017
采用显微切片进行尺寸检查 IPC-TM 650 2.2.5A(1997)
微切片法，手工、半自动以及全自动方法 IPC-TM-650 2.1.1F（2015）
金属镀层板厚度的测定，横截面法 IPC-TM-650 2.2.18.1 (1994)
染色和撬开测试方法 IPC-TM-650 2.4.53(2017)
环旭电子股份有限公司量测分析实验室已整理公开能力范围，可按标准号、产品名称或检测项目在本页继续查询确认。
代表标准包括 IEC 62321-5:2013、GB/T 17359-2023、IEC 62321-7-1:2015、IEC 62321-7-2:2017、IPC-TM 650 2.2.5A(1997)、IPC-TM-650 2.1.1F（2015） 等。完整匹配明细建议按标准号、产品名称或检测项目在本页继续查询确认。
代表检测对象包括 印制电路板及组件金属材料、电子电气产品 等，具体是否覆盖您的产品型号、样品状态和报告用途，需结合实验室能力范围确认。
建议以具体产品、检测项目、标准号和报告用途发起查询或提交需求。具备相应资质范围的承接实验室可按委托要求出具检测报告；报告可使用范围需以承接实验室资质、检测标准、委托要求及接收方审核为准。
建议换成标准号、检测对象或检测项目关键词再试，或切换到其他分公司查看。