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2026-05-12
按“U”筛选，展示 29 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 12 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
AEC-Q100-REV-J August 11, 2023
车用集成电路基于失效机理的应力测试认证 表2 第E2项
检测项目：预处理试验、高加速应力试验、稳态温湿偏置寿命试验、无偏压高加速应力试验、高压蒸煮试验、温度循环试验、功率温度循环试验、高温存储寿命试验 等 17 项，点击展开全部
检测对象：集成电路
AEC Q003-Rev-A February 18，2013
集成电路产品电气性能表征指南
检测项目：键合线剪切强度、键合线拉力
检测对象：集成电路
AEC-Q100-008-REV-A July 18,2003
早期寿命失效率（ELFR）
检测项目：早夭试验
检测对象：集成电路
AEC-Q100-010-REV-A July 18, 2003
焊球剪切测试
检测项目：焊球剪切测试
检测对象：集成电路
AEC-Q100-002-Rev-E August 20，2013
人体模型 (HBM) 静电放电测试
检测项目：人体模型静电放电测试 （HBM）
检测对象：集成电路
AEC-Q100-011-Rev-D January 29，2019
带电器件模型(CDM)静电放电(ESD)测试
检测项目：带电器件模型静电放电测试 （CDM）
检测对象：集成电路
AEC-Q100-004-Rev-D August 7, 2012
集成电路闩锁效应测试
检测项目：闩锁效应测试
检测对象：集成电路
AEC-Q101-001-Rev-A July 18，2005
人体模型(HBM)静电放电(ESD)测试
检测项目：人体模型静电放电测试 （HBM）
检测对象：半导体分立器件
AEC-Q101-005 Rev-A January 29，2019
带电器件模型(CDM)静电放电(ESD)测试
检测项目：带电器件模型静电放电测试 （CDM）
检测对象：半导体分立器件
AEC-Q200-005 REV A June 1, 2010
基板弯曲试验
检测项目：基板弯曲试验
检测对象：无源器件（被动器件）
AEC-Q200-002-Rev-B June 1，2010
人体模型静电放电测试
检测项目：静电放电测试 （ESD）
检测对象：无源器件（被动器件）
UL94-2024
设备和器具部件用塑料材料的可燃性试验
检测项目：阻燃性试验
检测对象：印制电路板